Sesión S2B2 “Diseño y Construcción de Cavidades Resonantes para Láseres de Pulsos Ultracortos de Ti:Zafiro y Cr:LiSAF ” Héctor Castillo-Matadamas*,§ Rafael Quintero-Torres* § Centro Nacional de Metrología, CENAM División de Metrología Dimensional Dimensional. * Centro de Física Aplicada y Tecnología Avanzada Universidad Nacional Autónoma de México, UNAM Programa de la Presentación Introducción: Láseres de pulsos ultracortos en peines de frecuencia frecuencia. Constituyentes C tit t d de un láser lá para pulsos l ultracortos de estado sólido. Elementos y criterios de diseño Resultados de los láseres de pulsos ultracortos desarrollados Reloj Atómico al Cesio Incertidumbre relativa Peine de frecuencias 13 s ± 2,5 2 5 x 10-13 BIPM Láser estabilizado en ± 2,5 , x 10-11 m frecuencia al Yodo CENAM Láser estabilizado en f i frecuencia 00 k Laboratorios Secundarios Laboratorio L b i de d Metrología Producción Bloques patrón de referencia 4,5 x 10-7 m Bloques patrón de calibración 2,1 x 10-6 m 0 1 2 Z X ± 1,0 x 10-9 m Instrumentos de medición 1,1 x 10-6 m 4,0 x 10-6 m 2,0 x 10-5 m Y Medición de piezas producto 3,0 x 10-4 m Bombeo del medio de ganancia ganancia, alto voltaje, corriente eléctrica, otro láser. Medio de ganancia, ganancia con absorción selectiva del bombeo. Cavidad de láser á de estado sólido ó Láser de bombeo Cavidad resonante con al menos un semiespejo. semiespejo Elementos de sujeción que g la alineación óptica p y aseguren estabilidad mecánica de los elementos del láser. Para láseres de basados en Cr: LiSAF podemos hacer: 1. Bombeo directo con diodos Láser x0 x1 Cr:LiSAF Modelos basados en matrices ABCD A Diodo Laser C 1 Watt 275mm L f75 M L-f200 L-f75 65mm 27mm waist of "V" cavity + waist of pump beam Vertical fuera de eje 0.2 h 0.15 C D w [mm] A B 0.1 0.05 0 -0.05 0 05 -0.1 v Vertical en el eje 638 640 642 644 646 648 Z axis [mm] 650 652 654 656 2. Bombeo con cavidad bombeada por diodos Láser Diode pump solid state laser laser, (DPSS) Haz haz intracavidad waist of de "V"bombeo cavity + ywaist of pump beam 50 0.2 100 30 um diametro 150 0.15 200 250 w [m mm] 0.1 300 350 0.05 400 450 100 0 -0.05 200 Posición del Cristal -0.1 01 638 640 642 644 646 648 Z axis [mm] 650 652 654 656 300 400 500 600 100% de energía acoplada al modo fundamental Modos delde tipo Eficiencia acoplamiento p Hermite-Gauss alm = 4ε µ ∫∫ E ∗ lm 2 alm ( x, y )ηE=pump ( x, y ) dx dy ∑a lm 2 ' l 'm ' lm ' Cristales Vibrónicos con emisión de amplio espectro Sistema láser de 4 niveles Niveles excitados Relajación en la red Cr:LiSAF Ti:Za a Bombeo óptico Emisión p de amplio espectro Relajación al estado base Ti- Za Absorción Emisión Un nidades a arbitrarias s Un nidades a arbitrarias s Emisión – Absorción para cristales Cr:LiSAF y Ti- Za Absorción Emisión Longitud de onda (nm) L Longitud it d de d onda d (nm) ( ) Fuente: W. Koechner, Solid-State Laser engineering, Láser de onda continua CW sin control de modos Am mplitud ι(ν) I( t ) Fa ase Am mplitud +π 0 -π Tiempo Frecuencia Frecuencia -π ∆ν I( t ) Amplittud ι(ν) Fase e Ampllitud Láser pulsado en régimen “mode locking” 0 +π Frecuencia Frecuencia ∆tp Tiempo W. Koechner, Solid-State Laser engineering, Cavidades lineales y de anillo Espejo de acoplamiento Cavidad de anillo de 4 Cavidad Lineal de 4 espejos p j espejos Espejos de alta reflexión Tran nsmisio on % Transm mitancia (%) 100 90 80 70 60 50 40 30 20 10 0 500 0,20 0,18 0,16 0,14 0,12 0,10 0 08 0,08 0,06 0,04 0,02 , 0,00 750 Espejos para Cr:LiSAF, Transmision de Espejos de la cavidad alta reflexión y ancho espectro 700 800 850 900 Lomgitud de onda (nm) 950 900 Longitud de Onda (nm) 1100 0,05 0 05 0,05 100 0,04 0,04 90 0,03 80 0,03 70 0,02 0,02 60 0,01 50 0,01 0,00 40 640 Transm mitancia a (%) Tran nsmitancia ((%) Espejos para Ti-Za, alta reflexión y ancho espectro 30 20 10 0 640 740 840 Longitud de onda (nm) 940 740 840 Longitud de onda (nm) 940 Acoplador CVI de 98% Trans smitanc cia (%) 3,00% 2 50% 2,50% 2,00% Ti : Za 1,50% 1 00% 1,00% 0,50% 0,00% 750 Cr:LiSAF 800 850 900 Longitud de onda (nm) 950 La longitud de la cavidad resonante determina la frecuencia de repetición de los pulsos cortos L b M2 M3 a Cr:LiSAF X5 X2 X6 M1 c 2l c = l Cavidad Lineal f repetición = Cavidad Anillo f repetición M4 segunda derivada dk/dw Dispersion de s segundo orden [ffs2/cm] 260 Dispersion de segundo orden para Cr:LiSAF 240 Cristal En E ell cristal i t l los l modos d de d longitud de onda corta M M (azules)P y deM longitud de onda P larga (rojos) se mueven a diferente velocida velocida, lo que da origen g a la dispersion p de segundo orden 220 200 180 160 140 0.8 M t i l Material Fused Silica BK7 LAKL21 K5 F2 SF11 ZnSe S Cr:LiSAF Ti:Za i di a 850 nm indice 1,4525 1,5098 1 6326 1,6326 1,51507 1,6067 1,7650 2 10 2,5107 1,40 1,76 angulo l de d Brewster B t TB=artan(n) 55,45 56,48 58 51 58,51 56,57 58,10 60,47 68 28 68,28 54,41 60,40 0.85 0.9 Longitud de onda [um] 0.95 calculo con 8mm TiZa a 795 nm, 5 mm prisma i apice (grados) 69,09 67,04 62 98 62,98 66,85 63,80 59,07 43 43 43,43 59,66 30 72 30,72 11,66 1 L b M2 M3 Configuración de anillo , X2 =x5= 300 mm, Frep F = 250 MHz MH X5 X2 X6 M1 1 ∂ω δ = ω ∂p N ω − ω L −1 ≈ NL p N ω L p =0 a Cr:LiSAF M4 p 100.7 -4 x 10 0 100.68 100.66 -1 100.64 Con esta expresión podemos localizar la posición i ió del d l cristal i l dentro de la cavidad b [mm] 100 62 100.62 100.6 -2 100.58 100.56 -3 100.54 100 52 100.52 100.5 -4 42 44 46 48 a [mm] 50 52 Elementos de diseño para un láser de pulsos ultracortos con aplicación p en metrología g Cavidad resonante corta (alta frecuencia de repetición). Acoplamiento del haz de bombeo al modo fundamental del láser i intracavidad id d y en la l posición i ió del d l cristal Diseño de cavidad Compensación de la dispersión chirped dispersión, mirror o prismas de corta longitud, n ?? Localización de la posición del Cristal de acuerdo a la saturación de ganancia y a la sensibilidad del Kerr Lens Barrido espectral 50 100 150 200 250 300 350 400 450 100 200 300 400 500 600 Pulsos cortos en láser lá d de Ti Z Za Pulsos cortos en láser lá d de Cr:LiSAF 1. Construcción de cavidades de anillo de corta longitud y alta frecuencia de repetición (mayor a 500 MHz) usando cristales cortos de TiZa. 2 C 2. Caracterizar t i l pulsos los l obtenidos bt id por medio di de d la l construcción t ió de d un autocorrelador con detector de diodo emisor de luz, LED. 3. Verificar la máxima estabilidad de los pulsos en láser de Cr:LiSAF usando un láser de bombeo DPSS. 4. Posible incorporación de un medio no lineal dentro de la cavidad a fin de realizar el Kerr lens en una posición diferente al del medio de ganancia. 5. Una vez caracterizados los pulsos se iniciará la incorporación de fibra micro estructurada a fin de obtener la expansión del espectro. espectro 1. El bombeo por ambos extremos del cristal de Cr:LiSAF, causa saturación de la ganancia, sobre todo cuando el acoplamiento no es óptimo como en el caso del bombeo con DL’s. 2. Para el caso del Cr:LiSAF es adecuada la incorporación p de un medio no lineal dentro de la cavidad a fin de realizar el Kerr lens en una posición diferente al del medio de ganancia. 3. La longitud de onda de emisión de Cr:LiSAF es ideal para espejos de penetración variable comerciales (chirp mirrors) por lo que se deberan confirmar anchos de pulsos menores de 100 fs usando chirp mirrors. 4. Las cavidades de alta frecuencia de repetición con Ti:Za y chirp mirrors ha probado ser robustas siempre que sean usados cristales cortos (∼3 mm) y de alta absorción (5 cm-11) GRACIAS POR SU ATENCIÓN