Microscopia Electronica de Barrido de Ultra Alta Resolucion

Microscopía Electrónica de Barrido
de Ultra Alta Resolución
Nanociencias
www.nanocentro.ipn.mx
Resultados
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Microfotografías adquiridas con electrones secundarios y retrodispersos.
Microfotografías adquiridas en campo claro y obscuro, STEM.
Microfotografías compuestas (electrones secundarios y retrodisperos)
Microanálisis elemental por dispersión de energía de rayos X (EDS)
Mapeo elemental y de línea en SEM y en STEM.
Mapeo de orientaciones cristalinas por difracción de electrones (OIM).
Análisis de superficial con baja aceleración (0.1 – 1 kV) con sistema de
desaceleración “Gentle Beam”.
Adquisición simultánea EDS y OIM.
Beneficios
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Microscopio Electrónico de Barrido de Ultra Alta Resolución
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Descripción
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El modelo del microscopio es JSM 7800F marca JEOL, tiene una resolución
de 1.2 nm a 1 kV de aceleración y de 0.8 nm a 15 kV. Tiene instalado:
• Detector EDS con una ventana de detección de 30 mm2 y un detector
EBSD marca EDAX.
• Detector STEM.
• Electrones retrodispersos y tres de electrones secundarios
• Sistema de desaceleración de electrones útil para materiales no
conductores y sensibles al haz de electrones.
• Limpiador de plasma.
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La técnica es no destructiva.
La resolución del equipo y la variedad de detectores permite trabajar
adecuadamente en el campo de las nanociencias y nanotecnología.
La ventana de 30 mm2 del EDS permite realizar mapeos en escala nanométrica
en muestras delgadas en STEM.
El desempeño a bajos voltaje permite analizar muestras no conductoras y
biológicas sin recubrimiento conductor.
Aplicaciones
Las técnicas analíticas que se pueden realizar en el microscopio JSM 7800F
son aplicables en diversos campos de la industria e investigación:
farmacéutica, alimentos, semiconductores, biología, mineralogía, micro y
nanotecnología, metalurgia, catálisis, entre otras.
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