LD Hojas de Física Física del estado sólido Propiedades de cristales Análisis estructural mediante rayos X P7.1.2.4 Escaneo Debye-Scherrer: determinación de la distancia reticular interplanar de muestras de polvo policristalino Objetivos del experimento g Registro del espectro de Debye-Scherrer de una muestra policristalina. g Cálculo de la distancia reticular a partir del resultado. Principios Para registrar un escaneo Debye-Scherrer se transilumina una muestra de polvo cristalino con rayos X monocromáticos. La muestra de polvo contiene diminutos monocristales de aproximadamente 5-50 µm de diámetro, denominados cristalitos. Un conjunto de planos reticulares en un cristalito lleva a un reflexión - difracción en un plano de observación (por ejemplo, una película) si está alineado de tal manera que se cumpla la condición de Bragg: n ⋅ λ = 2 ⋅ d ⋅ sin ϑ (I) n: orden de difracción λ: longitud de onda d: distancia reticular interplanar ϑ: ángulo de Bragg relativo al rayo primario Fig. 1: Esquema del montaje para el método de Debye-Scherrer. a: tubo de rayos X, b: filtro de Zr, c: colimador, d: muestra, e : pantalla. (ver Fig. 2 y experimento P6.3.3.1). El ángulo entre la reflexión - difracción y la película, que está alineada en forma perpendicular al rayo primario, es 2ϑ. Por lo general, los cristalitos están orientados al azar, sin ninguna dirección privilegiada de modo que siempre hay algunos cristalitos en el polvo cristalino que corresponden a una rotación del cristalito en cuestión alrededor del eje primario. En la disposición de este experimento, su intensidad de reflexión – difracción será registrada en función de 2ϑ, lo que corresponde al registro de la intensidad del patrón de difracción de la película en el experimento P7.1.2.3 a lo largo de una línea vertical (Fig. 1). Cuanto más fino es el polvo, más uniformes son las reflexiones individuales de los cristalitos. Cristales cúbicos: Bi 1106 Si la consideración se restringe a cristales cúbicos, la distancia reticular interplanar se puede expresar de la siguiente forma: d= 1 2 h + k 2 + l2 (II) LD Didactic GmbH Leyboldstrasse 1 D-50354 Huerth / Alemania Teléfono: (02233) 604-0 Fax: (02233) 604-222 e-mail: info@ld-didactic.de por LD Didactic GmbH Impreso en la República Federal de Alemania Se reservan las alteraciones técnicas P7.1.2.4 Montaje Materiales 1 aparato de rayos X USB, completo........... 1 tubo contador con ventanilla con cable ....... 1 juego de 2 soportes para cristales en polvo ... 1 pistilo de 100 mm de largo .................. 1 mortero de porcelana de 70 mm de diámetro .. 554 811 559 01 554 842 667 091 667 092 Por ejemplo, polvo de NaCl, KCl o LiF 1 PC con Windows 98 o versiones más recientes Los enteros h, k, l son los índices de Miller del conjunto de planos reticulares en cuestión (ver experimento P7.1.2.2). Al insertar la ecuación (II) en la ecuación (I), se obtiene la forma cuadrática 2 ( - Coloque el filtro de Zr en el colimador. Prepare una muestra de polvo utilizando el mortero y el pistilo. Muela la muestra en un mortero hasta que no se sientan granos al frotar el polvo entre la yema de los dedos. Nota: Las muestras de polvo grueso arrojan reflexiones de Debye-Scherrer con una distribución de intensidades no homogénea. materiales adicionales: λ sin 2 ϑ = 2 ⋅ a0 LD Hojas de Física -2- ) ⋅ (n ⋅ h) 2 ⋅ (n ⋅ k ) 2 ⋅ (n ⋅ l) 2 ⋅ - Adhiera tiras de cinta adhesiva a la parte posterior del soporte para polvo y vierta el polvo preparado en el marco (Fig. 2). - Presione el polvo dentro del marco. Nota: Se puede utilizar un bloque de espuma de poliestireno en lugar del soporte para polvo cristalino. - (III) Fije el soporte para polvo al soporte para muestras del goniómetro. Fije en forma manual el ángulo del soporte para objetivo en aproximadamente 10°. (ver experimento P7.1.2.3). (a) Notas de seguridad El aparato de rayos X cumple con todas las normas vigentes para equipos de rayos X; es un dispositivo totalmente protegido para usos educativos, y es del tipo cuyo uso en escuelas está permitido en Alemania (NW 807 / 97 Rö). (b) Fig. 2: Preparación del marco del soporte esquemáticamente: (a) parte posterior con tiras de cinta adhesiva (b) parte delantera con polvo presionado para polvo Realización del experimento La protección integrada y las medidas del blindaje reducen la intensidad de dosis en el exterior del aparato de rayos X a menos de 1 µSv/h. Este valor se encuentra en el orden de magnitud de la radiación de fondo natural. g Antes de comenzar a utilizar el aparato de rayos X, verifique que no se encuentre dañado y asegúrese de que la alta tensión se interrumpa cuando se abren las puertas corredizas (ver Hoja de instrucciones para el aparato de rayos X). g No permita el acceso de personas no autorizadas al aparato de rayos X. Evite el sobrecalentamiento del tubo de rayos X. g Al encender el aparato de rayos X, verifique que el ventilador de la cámara del tubo comience a girar. Fig. 3: Diagrama esquemático de la difracción de rayos X en una muestra de polvo: 1: colimador, 2: muestra de polvo, 3: tubo contador. LD Didactic GmbH Leyboldstrasse 1 D-50354 Huerth / Alemania Teléfono: (02233) 604-0 Fax: (02233) 604-222 e-mail: info@ld-didactic.de por LD Didactic GmbH Impreso en la República Federal de Alemania Se reservan las alteraciones técnicas LD Hojas de Física P7.1.2.4 -3- Evaluación y resultados - Ejecute el software y el aparato de rayos X (ver “Registro de un espectro de difracción” en el experimento P7.1.2.1). Fije la alta tensión del tubo U = 35,0 kV y la corriente de emisión I = 1,0 mA. a) Reflexión de la luz en un espejo plano - Fije el tiempo por paso angular ∆t = 10 s y el ancho del paso angular ∆β = 0,1°. NaCl: ϑ = 15,6° KCL: ϑ = 13,3° - Seleccione “Sensor”, ajuste ángulos de inicio y parada β adecuados para el sensor. Aplique la alta tensión y presione el botón AUTOMATIC SCAN para registrar los espectros. Quite el soporte para polvo del soporte para muestras del goniómetro y registre un espectro de fondo. - - A partir de los picos en los ángulos β se puede realizar una evaluación de datos similar a la realizada en el experimento P7.1.2.3 para estimar la constante de red de la estructura del NaCl y KCl. Ejemplo de medición Información complementaria El escaneo Debye-Scherrer es un método apropiado para hallar las constantes de red de muestras (esto es, los parámetros de estructura) que no cristalizan. Fig. 4: Espectro de difracción (negro) y línea de base (rojo) de rayos X monocromáticos de una muestra de NaCl en polvo. Fig. 5: Espectro de difracción (negro) y línea de base (azul) de rayos X monocromáticos de una muestra de KCl en polvo. LD Didactic GmbH Leyboldstrasse 1 D-50354 Huerth / Alemania Teléfono: (02233) 604-0 Fax: (02233) 604-222 e-mail: info@ld-didactic.de por LD Didactic GmbH Impreso en la República Federal de Alemania Se reservan las alteraciones técnicas