TRANSISTORES POR EFECTO DE CAMPO (FET) Primera parte Otro tipo de transistores es denominado POR EFECTO DE CAMPO (FET = Field Effect Transistor). PRINCIPIO: El ancho del canal conductor en un semiconductor puede ser variado por la aplicación de un campo externo. Se comportan, por lo tanto, como resistores controlados por voltaje. MOSFET: Metal oxide semiconductor FET Enhancemente mode: En modo de enriquecimiento Depletion mode: En modo de empobrecimiento FET JFET: Junction FET o FET de unión 1 MOSFET Muy popular en fabricación de VLSI Ocupan menor área en la oblea de silicio. Potencia Lógica digital se puede realizar solamente con MOSFET (no requiere diodos o resistencias como en TTL) 2 3 Construcción de un MOSFET en modo de enriquecimiento. Equivalente a la BASE Capa aislante de óxido Equivalente al EMISOR Equivalente al COLECTOR 4 En ausencia de un campo externo el transistor se encuentra abierto (no hay conducción). Estamos en la REGION DE CORTE. Si aplicamos un campo positivo a la compuerta, los portadores positivos serán repelidos de la superficie. En esta zona, los portadores negativos serán prevalentes por número, pudiendo conducir una señal. Se forma, de ese modo, un canal. Cuanto más intenso el campo aplicado, más ancho será el canal. Esto ocurre cuando el voltaje sobre pasa un voltaje UMBRAL (Threshold) entre compuerta y fuente Los portadores son exclusivamente negativos (unipolar) 5 Supongamos que mantenemos el voltaje drenaje – fuente VDS. La resistencia decrece debido a que el ancho del canal crece. Pero cuando VGG se acerca a VDD el ancho del canal cerca del drenaje se torna mínimo (estrangulado). A partir de este momento, ningún increento en la diferencia compuerta – fuente incrementa la corriente en el drenaje. De ese modo, se convierte en una fuente de corriente constante. Si variamos tanto los voltajes en el drenaje como en la compuerta, obtendremos una familia de curvas: Voltaje Corriente en el drenaje vs Drenaje – Fuente manteniendo constante el voltaje Compuerta – Fuente. 6 REGION DE TRIODO REGION DE SATURACION REGION DE CORTE 7 LECTURAS: Smith, Sedra, Circuitos Microelectrónicos, pp 353 - 371 8