Aumente su productividad y reduzca los costes con el ICP

Aumente su productividad y reduzca los
costes con el ICP-OES más rápido del
mercado
Características del ICP-OES
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•
•
•
•
Amplio espectro 78 elementos analizables.
Muy adecuado para el análisis de elementos refractarios.
Técnica simultanea, muy rápida y robusta.
Amplio intervalo dinámico - ppb a %
Precisión frecuentemente superior al 1%
Gran tolerancia a sólidos disueltos.
Gran tolerancia a los medios orgánicos.
Pocas interferencias químicas
Normalmente la preparación de muestra es sencilla
Relativamente facil de operar
Limitación: Consumo de Ar
Estrategias para la disminución de costes por
ICP-OES
Uso de mini-antorchas
Disminución del flujo de Ar
Limitación de la potencia
del plasma
Aumento de la eficacia de
acoplamiento
Tiempos de estabilización
más rápidos
Disminución
de gastos
Aumentar la velocidad de
análisis
Equipos de óptica simultanea
Accesorios especiales para
la toma de muestra
Corrección automática de
fondos e interferencias
Disminuir el tiempo de
procesado de los resultados
Multicalibración
Controles de calidad
Tiempo de puesta en marcha más rápido
Nuevos detectores sellados sin necesidad de purga de Ar
- Más rápida puesta en marcha. < 10 min de estabilización.
- Menor consumo de gases, tanto en operación como en stand-by.
7
PC on, Plasma on
6
Concentration (mg/L)
5
4
3
2
1
Ar 404.442
Ba 233.527
Ba 455.403
Mg 280.270
Mg 285.213
Zn 206.200
0
0:01 0:06 0:12 0:18 0:24 0:29 0:35 0:41 0:47 0:52 0:58 1:04 1:10 1:16 1:21 1:27 1:33 1:39 1:44 1:50
Hours:mins
• El tiempo de puesta en marcha desde que se enciende el PC hasta
que se dispone de un plasma estable es <15 minutos
4
El único sistema de ICP-OES simultaneo
Policromador Echelle
Una sola rendija de
entrada.
Todos los elementos
analizados en una
única exposición.
Mayor velocidad de análisis
Mayor precisión
Calibraciones más duraderas
Mejor corrección con standard
interno
El único sistema de ICP-OES simultaneo:
Policromador Echelle
Interfase CCI Patentada
Interfaz de cono refrigerado
Apertura de la cola del
plasma
Detectores empleados en ICP-OES de optica Echelle
720/725 CCD
710/715 CCD
CID
Adaptación ideal al espectro
Cobertura total de long de onda
Simultaneo en todo el intervalo de long de onda
Sin tiempos de retraso prelectura
Tiempo de medida independiente de las
intensidades
Sin tiempos extra de preintegración
Sin recubrimientos de lumogen – larga vida
Alta densidad de píxels permitiendo hacer fitted
background
Fast automated curve fitting FACT
SCD
7
Nuevos accesorios para la toma de muestra
One-Neb
MSIS
• Un solo nebulizador para todas las
aplicaciones.
• Concatenar métodos
• Generación de hidruros o vapor
frío simultaneo con el análisis del
resto de elementos.
Nuevos accesorios para la toma de muestra
Válvula de intercambio automático de
cuatro vías (SVS1)
• Menor tiempo de toma de muestra y lavado.
• Asegura la ausencia de arrastres entre
disoluciones.
• Compatible con el SPS-3 y Cetac ASX-520
• 33 % aumento de
productividad
• 25% ahorro de
argón
9
Nuevos accesorios para la toma de muestra
Cuatro triggers desde el software
•
Posición de inicio: Posición A (Lavado instantaneo)
•
Cuando termina el tiempo de delay: Posición B (Muestra)
•
Cuando entra la disolución: Posición A (lavado instantaneo)
•
Fin del análisis: Posición B (limpieza del auto-sampler)
Nuevos accesorios para la toma de muestra
SVS2 Productivity Pack
Nuevos accesorios para la toma de muestra
¿Que es el paquete de productividad SVS2?
Es un sistema con una válvula de álta velocidad de 12 puertos con 2
posiciones y una bomba peristáltica de alta velocidad que elimina
virtualmente el tiempo de toma de muestra y los tiempos de lavado.
Beneficio
El Paquete de Productividad dobla la productividad del equipo, reduce el
consumo de Ar y aumenta el tiempo de vida de la antorcha
• Dobla el rendimiento respecto de un sistema de introducción de muestras
convencional.
• La toma de muestra se aisla de la nebulización para mejorar la productividad.
• El lavado tiene lugar mientras la muestra está analizándose para aumentar los
tiempos de lavado.
• Aumenta la estabilidad, especialmente para muestras con alto TDS
• Disminuye la degradación de la antorcha y mantenimiento
Nuevos accesorios para la toma de muestra
¿Como trabaja?
Bomba peristáltica
rápida
Analisis
Carga
Nuevos accesorios para la toma de muestra
Modo de medida
No SVS
Signal
SVS2
0
10
20
30
40
Time (s)
50
60
70
Nuevos accesorios para la toma de muestra
Análisis del ahorro de tiempos
Análisis con 720-ES +
SPS3 SOLO
Operación
Análisis con 720-ES +
SPS3 + SVS1
Análisis con 720-ES +
SPS3 + SVS2
Tiempo
(s)
Tiempo de
lavado (s)
Tiempo
(s)
Tiempo de
lavado (s)
Tiempo
(s)
Tiempo de
lavado (s)
3
-
3
3
3
3
15
-
15
13
8
8
Tiempo de estabilización del
instrumento
Tiempo de medida de muestra
10
-
10
-
5
5
10
-
10
-
10
10
Movimiento de la sonda del
autosampler al lavado.
Tiempo de lavado de la sonda
del autosampler
Tiempo total
3
-
3
3
-
-
20
20
5
5
0
0
61
20
46
24
26
26
Moviemiento del autosampler a
la muestra
Tiempo de toma/retraso de carga
Análisis de tiempo ahorrado
15 segundos
35 segundos
Nuevos accesorios para la toma de muestra
SVS2 Beneficios
3500
Dobla la productividad
Productivity
Análisis más rápido y mayor
tiempo de limpieza
with SVS2
>133% more
Productivity
2500
(no. of samples)
• Disminuye a la mitad el
consumo de Ar.
• Aumenta la vida de la antorcha
3000
2000
with SVS1
>33% more
Productivity
1500
1000
without SVS
500
• Menor arrastre entre muestras
• Mejor precisión con mayor
estabilidad del plasma
Menor carga de muestra
• Menos depósitos de sales en el
inyector
• Mayor estabilidad a largo plazo
al usar muestras con altos TDS
0
0
4
8
12
16
Time (hours)
20
24
28
Corrección automática de fondos e interferencias.
Intensität
4000
• La elevada densidad de píxels en el detector es un
rasgo único que permite a nuestro software usar la
corrección adaptada de los fondos a tiempo real, no
siendo necesario fijar los puntos de integración del
pico.
As 188.980
3000
2000
1000
188.953
188.980
Wellenlänge (nm)
S: 1969 B: 1179 SUV: 0.670
189.000
189.015
Corrección automática de fondos e interferencias.
Trazado de fondos ajustado
• La cuantificación en ICP-OES ha de hacerse
por la medida de la intensidad neta de la
emisión. La intensidad de los fondos debe
ser sustraída.
• Los equipos de Agilent 7XX ICP-OES son los
únicos capaces de medir la intensidad neta
restando los fondos sin ninguna intervención
del analista.
• Esto solo es posible por la gran densidad
de píxels en cada elemento de resolución
de nuestros detectores
B
• En todo el resto de equipos de ICP-OES el
Lineal
analista debe comprobar las posiciones del
BG para todos los elementos en muestras
desconocidas
• El análisis de muestras desconocidas es
mucho más seguro con el BG ajustado
G/D
Ajustado
Corrección automática de fondos e interferencias.
FACT. Deconvolución espectral de interferentes
Cd 226.502 nm/ Fe 226.505 nm
Fe 226.505
Permite corregir: blanco,
matriz y hasta 7
interferencias por metal.
Cd 226.502
226.9492
226.502
Ni 231.604 nm en matriz
orgánica
Se precisa una mínima
separación entre
interferente e interferido (3
pm).
Señal total
Interferente
analito
Ejemplos de análisis: Muestras agrícolas de suelos
y foliares
Digestión por microondas de acuerdo con la USEPA method 3051A
Agilent 720 ICP-OES con Paquete de Productividad SVS2
RF = 1.3 kW
Neb = 0.7 L/min
Plasma gas = 15 L/min
Auxiliary gas = 1.5 L/min
Consumo total de muestra = 1 mL
Tiempo de adquisición = 2 x 5 segundos por réplica
Retraso de toma de muestra = 0 segundos
Retraso de estabilización = 7 segundos
Tiempo de lavado = 0 segundos
Tiempo de carga del loop = 6 segundos
Tiempo total de análisis de muestra = 30 segundos
NIST SRM 1571 Hoja de Orquídea
Unidad
Intervalo
especificado
Medido
As 188.980
mg/kg
490-600
532 ± 30
Co 228.615
mg/kg
6.3-12
9.66 ± 0.79
Cr 267.716
mg/kg
15-23
18.7 ± 1.5
Cu 324.754
mg/kg
11-13
12.0
Mn 257.610
mg/kg
87-95
87
Na 588.995
mg/kg
76-88
64.9
Ni 231.604
mg/kg
8.8-15
10.0 ± 1.2
Pb 220.353
mg/kg
42-48
42.1
1.8
Zn 206.200
mg/kg
22-28
27.5
1.6
Al 396.125
Wt %
-
275
15
Ca 315.887
Wt %
2.06-2.12
K 766.491
Wt %
1.44-1.50
1.453
0.096
Mg 285.213
Wt %
0.60-0.64
0.59
0.02
Elemento
0.7
6
2.9
2.28 0.11
NIST SRM 2710 Extractos de suelos de Montana
Unidad
Intervalo
especificado
Medida
As 188.980
mg/kg
490-600
532 ± 30
Ba 455.403
mg/kg
300-400
311.5± 16.1
Co 228.615
mg/kg
6.3-12
9.66 ± 0.79
Cr 267.716
mg/kg
15-23
18.7 ± 1.5
Cu 324.754
mg/kg
2400-3400
2484± 109
Mn 257.610
mg/kg
6200-9000
6845 ± 404
Ni 231.604
mg/kg
8.8-15
10.0 ± 1.2
Pb 220.353
mg/kg
4300-7000
4523 ± 302
Zn 206.200
mg/kg
5200-6900
5382 ± 378
Al 396.125
Wt %
1.2-2.6
1.87 ± 0.18
Ca 315.887
Wt %
0.38-0.48
0.380 ± 0.013
Fe 234.350
Wt %
2.2-3.2
3.14 ± 0.34
K 766.491
Wt %
0.37-0.50
0.502
Mg 285.213
Wt %
0.43-0.60
0.503 ± 0.020
Na 588.995
Wt %
0.049-0.062
Elemento
0.069
0.016
0.003
Ejemplos de análisis: Análisis de aguas siguendo
la reglamentación USEPA 200.7
Agilent 720 ICP-OES con Pack de Productividad SVS2
RF = 1.4 kW
Neb = 0.7 L/min
Plasma gas = 15 L/min
Auxiliary gas = 1.5 L/min
Consumo total de muestra = 1 mL
Tiempo de adquisición= 2 x 20 segundos por réplica
Tiempo de toma de muestra = 12 segundos
Tiempo de estabilización = 0 segundos
Tiempo de lavado = 0 segundos
Tiempo de rellenado del loop = 8 segundos
Tiempo total de análisis de muestra = 68 segundos
NIST SRM 1643e Elementos Traza en Aguas
Elemento
Unidad
Especificado
Medido
MDL
Al 308.215
g/L
141.8
152
0.1
As 188.980
g/L
60.45
57
3.3
Ba 493.408
g/L
544
535
2
Ca 315.887
g/L
32,300
30,995
8
Cd 226.502
g/L
6.568
6.6
0.2
Co 228.615
g/L
27.06
27.2
0.4
Cr 267.716
g/L
20.4
20.3
1.1
Cu 324.754
g/L
22.76
23.7
2
Fe 259.940
g/L
98.1
98.0
3
K 766.491
g/L
2034
2017
16
Mn 257.610
g/L
38.97
39.7
0.2
Na 588.995
g/L
20,740
19,061
5
Ni 231.604
g/L
62.41
61.7
1.4
Pb 220.353
g/L
19.63
21.1
1.8
Se 196.026
g/L
11.97
14.1
4
Zn 213.857
mg/L
78.5
79.8
0.6
CWW-TM-C Elementos Traza en aguas residuales
Elemento
Unidades
Especificado
Medido
MDL
Al 308.215
g/L
500
535
0.1
As 188.980
g/L
150
143
3.3
Ba 493.408
g/L
500
480
2
Cd 226.502
g/L
150
146
0.2
Co 228.615
g/L
500
478
0.4
Cr 267.716
g/L
500
476
1.1
Cu 324.754
g/L
500
494
2
Fe 259.940
g/L
500
486
3
Mn 257.610
g/L
500
490
0.2
Ni 231.604
g/L
500
477
1.4
Pb 220.353
g/L
500
487
1.8
Se 196.026
g/L
150
151
4
Zn 213.857
mg/L
500
498
0.6
Productividad Comparada
Tiempo de análisis de muestra (s)
1200
1080
1000
Seconds
800
600
400
210
150
200
68
0
Competitors
Sequential ICP
Agilent 710
Agilent 720
Agilent 720 with
SVS2
Basado en los 22 elementos analizados de acuerdo con la
USEPA 200.7 method
Conclusiones de los sistemas de alta
productividad
• Cada sistema Agilent ICP-OES simultaneo está ya optimizado para
conseguir las mejores prestaciones analíticas y los costes operativos más
bajos.
• El detector ha sido optimizado para aumentar el rendimiento del equipo.
• La óptica simultanea con el sistema CCI de eliminación de interferencias
permite la adquisición conjunta de todas las líneas de emisión.
• Pueden incorporarse múltiples accesorios para aumentar aún más estas
prestaciones.
• Nuevo nebulizador One-neb y nuevo sistema de hidruros MSIS
• Sistema SVS-1 para mejora de productividad y disminución de gasto de Ar y
fungibles
• SVS2 es la mejor herramienta para mejorar la productividad y los costes de
análisis