III CURSO GENERAL DE ESPECTROMETRÍA ATÓMICA (AA, ICP-OES & ICP-MS) ORGANIZADO POR: FUNDACION GENERAL DE LA UNIVERSIDAD DE ALCALA CON LA COLABORACIÓN DE Alcalá de Henares, 8, 9, 10 y 11 de Junio de 2004 OBJETIVOS DEL CURSO La Planta Piloto de Química Fina de la Universidad de Alcalá, en colaboración con la empresa Varian Ibérica organiza, dentro del ciclo de actividades que la Fundación promueve anualmente, el presente curso general de Espectrometría Atómica (AAS, ICP-OES, ICP-MS), aplicada al análisis elemental. La determinación de trazas y ultratrazas de elementos metálicos en las diferentes matrices y campos de aplicación, es uno de los retos más importantes a que se enfrentan hoy día los laboratorios de análisis químico. Las normativas legales vigentes y el cumplimiento de los cada vez más rigurosos protocolos de calidad requieren la utilización de técnicas analíticas y equipos instrumentales capaces de dar cumplida respuesta a estos requerimientos, con la fiabilidad operativa y calidad analítica adecuadas a cada necesidad. La amplia variedad de alternativas instrumentales disponibles, cada una con sus correspondientes características, ventajas e inconvenientes, a menudo dificulta la elección de la técnica de trabajo más adecuada a cada necesidad y, dentro de ésta, la configuración que pueda ofrecer la más conveniente relación coste/productividad. El objetivo principal de este Curso es proporcionar a los asistentes los conocimientos básicos, tanto teóricos como prácticos, relacionados con la problemática del análisis de trazas y ultratrazas con las Técnicas Espectrométricas más conocidas: La Absorción Atómica tanto con Llama como con Horno de Grafito y Generación de Vapor y la Espectrometría de Plasma ICP-OES en sus diferentes configuraciones y alternativas. También se abordarán los últimos avances en tecnología de Plasma acoplada a sistemas de detección por masas, ICP-MS. Para completar un enfoque eminentemente práctico, las sesiones teóricas se complementan con sesiones prácticas, realizadas con la instrumentación más actual, sobre las técnicas de mayor implantación, AA e ICP-OES. Es objetivo general del curso generar un entorno de comunicación abierta entre los asistentes y fomentar el diálogo entre los mismos para facilitar así el intercambio de experiencias e información, de forma que además de obtener unos sólidos fundamentos en el campo del análisis de trazas mediante las técnicas de Absorción Atómica y Plasma, puedan utilizarlos con arreglo a sus intereses profesionales específicos. DIRIGIDO A Profesionales que tanto en laboratorios públicos como privados, se enfrentan día a día con el reto de desarrollar métodos espectroscópicos aplicados al análisis de trazas. DIPLOMA A todos los asistentes que sigan con asiduidad el curso y aprovechamiento, se les entregará un diploma acreditativo. PROGRAMA Día 8 de Junio de 2004 Fundamento y aplicaciones de la Absorción Atómica. Atomización por llama Sesión de Mañana Entrega de documentación. Presentación del curso. La problemática del análisis elemental. Fundamentos de la Espectrometría Atómica. Instrumentación en Absorción Atómica. Atomización por llama. Aplicaciones más importantes. Diferentes métodos de Calibración. Características analíticas:. Sensibilidad, Límite de Detección, Precisión y Exactitud. Interferencias generales y su control. 13.30 h.- Comida. Sesión de Tarde. Prácticas. Día 9 de Junio de 2004 Análisis de ultratrazas por Absorción Atómica: Generación de Vapor y Horno de Grafito Sesión de Mañana Sistemas de Generación de Hidruros y Vapor frío: Fundamentos e instrumentación. Características en la generación de hidruros. Aplicaciones. La Absorción Atómica con Horno de Grafito: Fundamentos e Instrumentación. Interferencias típicas en Absorción Atómica con Horno de Grafito y su corrección. Empleo de correctores de fondo, plataformas, modificadores de matriz. Aplicaciones. 13.30 h.- Comida. Sesión de Tarde. Prácticas. Día 10 de Junio de 2004 Espectrometría por Emisión de Plasma ICP-OES Sesión de Mañana La Espectrometría de Plasma en el contexto de las Técnicas Espectrométricas. Instrumentación básica. Sistemas Radiales y Axiales; Secuenciales y Simultáneos. Nuevas Tecnologías de detección. Comparación con los sistemas tradicionales. Estudio de interferencias típicas y sus sistemas de corrección. Aplicaciones más importantes. 13.30 h.- Comida. Sesión de Tarde. Prácticas. Día 11 de Junio de 2004 Espectrometría por Emisión de Plasma ICP-MS. Comparación de Técnicas. Introducción a la política de Calidad en el laboratorio de análisis. “Nuevas” Tecnologías en el análisis de ultratrazas. Espectrometría de Plasma ICP-MS. Conceptos y características generales. Instrumentación. Estudio de interferencias típicas y su control. Aplicaciones más importantes. Comparación resumida de AAS, ICP-OES e ICP-MS. Criterios de Calidad Analítica en Absorción Atómica según ISO-17025. 13.30 h.- Fin del Curso. PRÁCTICAS Selección de parámetros y estudio de interferencias en AAS. Aplicación de la AAS con llama en la determinación de Calcio en muestra alimentaria. Determinación de Hg en vertidos industriales por la técnica de Vapor frío. Determinación de Pb en muestras medioambientales por AAS con Horno de Grafito. Desarrollo de un programa multielemento por Espectrometría de Plasma ICP-OES. Aplicaciones del microondas en la preparación de muestras en productos alimentarios, medioambiente e industria farmacéutica. CURSO LUGAR PLANTA PILOTO DE QUIMICA FINA. Campus Universitario. Carretera Madrid-Barcelona, km. 33,6. 28.871-Alcalá de Henares. Tel.: 918855068. Fax: 918855057. http://www.uah.es/otrosweb/inves/UnidadesDeInvest/ppqf.html PONENTES Rafael Sanz, Director (Varian). Fernando Tobalina, Especialista en Espectroscopia (Varian). Antonio Crego, Prof. Titular Dpto. Q. Analítica (Univ. de Alcalá). Emiliano Rojas, Jefe de Sección (Laboratorio Municipal de Higiene, Madrid). FECHAS Días 8, 9, 10 y 11 de Junio de 2004. HORARIO Mañanas: 9,00 a 13,30 horas. Tardes: 15,00 a 17,00 horas. MATRÍCULA 420 €. INFORMACIÓN Fundación General de la Universidad de Alcalá. Imagen, 1 y 3. 28.801-Alcalá de Henares. Tel.: 918797430. Fax: 918797455. e-mail: mailto:cursos@fgua.es http://www.fgua.es/ Plazas según riguroso orden de inscripción, previa reserva telefónica. Fecha límite el 2 de Junio de 2004. Para los asistentes de fuera de Madrid, que deseen alojamiento, consulten con la Fundación General de la Universidad de Alcalá. BECAS Se dotarán de becas al 10% de los inscritos, que así lo soliciten y adjunten curriculum vitae. III CURSO GENERAL DE ESPECTROSCOPÍA ATÓMICA (AA & ICP-AES) Alcalá de Henares 8, 9,10 y 11 de Junio de 2004 INSCRIPCIÓN Para inscribirse, primero hay que reservar plaza telefónicamente (Tel. 91 2805825; Fax. 912805740, Fundación General de la Universidad de Alcalá). Una vez confirmada la plaza, enviar por fax a la Fundación el boletín de inscripción junto a una copia del resguardo del ingreso correspondiente a la matrícula. El ingreso se puede realizar por transferencia bancaria a Cajamadrid, en el número de cuenta 2038/2201/22/6000662787 a nombre de la Fundación General de la Universidad de Alcalá o mediante talón nominativo a nombre de la misma. Para cualquier otro tipo de información técnica sobre el curso pueden ponerse en contacto con: VARIAN IBERICA, S.A. (Srta. Paloma García) Avda. Pedro Díez, 25 28019-Madrid Tfno.: 91-472 76 12 Fax: 91-472 50 01 e-mail: paloma.garcia@varianinc.com BOLETÍN DE INSCRIPCIÓN III CURSO GENERAL DE ESPECTROSCOPÍA ATÓMICA (AA & ICP-AES & ICP-MS) Alcalá de Henares 8, 9, 10 y 11 de Junio de 2004 Apellidos y nombre ............................................................................................................................. Dirección ............................................................................................................................................ Población ...................................................................................... C.P.............................................. Empresa ................................................................... Cargo ............................................................ Aplicación .................................................... Utiliza AA Marca/Modelo ................................... Utiliza ICP Marca/Modelo .................................... Dirección de la Empresa .................................................................................................................... Población ...................................................................................... C.P............................................... C.I.F. ...................................... Teléfono ....................................... Fax ..............................................