Técnicas Espectroscópicas de análisis

ANÁLISIS INORGÁNICO MEDIANTE TÉCNICAS
ESPECTROSCÓPICAS
Organizado por el CIEMAT
Datos generales
PROFESORADO: Mª Isabel Rucandio, Virgilio Correcher, Marta Fernández, César
Augusto Maffiotte, Úrsula Alonso y Virginia Peyrés, Pilar Galán, Mª Belén Gómez,
Rodolfo Fernández, Amor Calderón, Mar González, Candelas Alonso, Luis Vicente
Gómez, Fernando Borlaf, Fernando García, Estefanía Conde y Antonio Gajate
(CIEMAT), Carlos Jiménez (PANalytical), Milagros Gómez y Emilio Matesanz (UCM)
FECHA: 29 de septiembre al 3 de octubre de 2014
HORARIO: De lunes a jueves de 9 a 16:30 horas y viernes de 9 a 13 horas
CONTROL DE ASISTENCIA: Firma diaria
LUGAR: Aula 84T Derecha. CIEMAT. Avda. Complutense, 40. Madrid.
NÚMERO DE PLAZAS: 25-30
HORAS LECTIVAS: 25
IDIOMA: español
Inscripciones: online hasta el 19 de Septiembre
El responsable de la clave orgánica deberá enviar un e-mail a formacion.interna@ciemat.es
autorizando su participación en el curso
Objetivos
Adquirir conocimientos de los fundamentos de las técnicas espectroscópicas de
análisis, y obtener una visión amplia de las aplicaciones de cada una de éstas y de
la información analítica que puede conseguirse en cada caso.
Destinatarios
Personal investigador y técnico, con una importante base analítica, interesados en
conocer las diferentes técnicas espectroscópicas de análisis.
Contenido
Teoría
Técnicas de absorción atómica.
Técnicas de emisión atómica.
Técnicas de fluorescencia atómica.
Espectrometría de Masas e ICP-MS.
Fluorescencia de Rayos X.
Difracción de Rayos X.
Técnicas nucleares de dispersión de haces de iones (PIXE y RBS).
Técnicas espectroscópicas de análisis de superficies (AES y XPS).
Espectrometría alfa, beta y gamma.
Técnicas luminiscentes.
Prácticas
Análisis mediante emisión atómica.
Análisis mediante absorción atómica.
Análisis mediante fluorescencia y difracción de rayos X.
Análisis de superficies mediante XPS y espectrometría de masas.