XTH 225 - Metrología Sariki

Metrología Sariki S.A.
XTH 225
XT H 225 para inspección de TC y rayos X para todo uso
El sistema del XT H 225 versátil ofrece una fuente de rayos X de microfocalización
potente, un volumen grande de inspección, con alta resolución de imagen y está
preparado para la reconstrucción de TC ultra rápida. Cubre una amplia gama de
aplicaciones, incluyendo la inspección de piezas fundidas pequeñas, piezas de
plástico y mecanismos complejos además de investigar materiales y muestras
naturales.
Ventajas:
-Fuente patentada de rayos X de microfocalización de 225 Kv. con tamaño de punto
focal de 3µm
-Funcionamiento fácil del sistema y coste reducido de propiedad
-Imágenes espectaculares que proporcionan una gran visión
-Adquisición de imágenes y procesamiento del volumen de gran rendimiento
-Automatización sencilla de la inspección
-La seguridad es lo principal
Características:
Precisión y rendimiento superiores a través de la fuente patentada de rayos X
de 225 Kv. de microfocalización
La fuente de microfocalización por defecto está equipada con un objetivo de reflexión,
que ofrece un tamaño de punto de 3 micras. Con el objetivo de transmisión opcional,
obtendrá incluso un tamaño de punto más pequeño y una capacidad de aumento
mayor. Independientemente del objetivo de elección, el sistema XT H 225 utiliza una
fuente de rayos X de tubo abierto que garantiza un coste reducido de propiedad.
Imágenes espectaculares desde las estructuras internas
Un tamaño de punto pequeño y un panel liso de alta resolución crean imágenes
nítidas. Adapte la resolución a sus necesidades: pieza completa en resolución gruesa
y alta resolución en una zona deseada de interés.
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Procesamiento de gran rendimiento
La clave de la potencia del procesamiento está en el software de XT, software
excepcional que mejora la capacidad de procesamiento de muestras y simplifica el
funcionamiento para que un usuario normal sin ser experto pueda utilizar el equipo. El
Software XT trae también la reconstrucción más rápida de datos de TC disponibles
actualmente en un PC individual. Este PC se construye con componentes normales
para ayudar en la capacidad de servicio. La capacidad de procesamiento de muestras
se puede mejorar más con la utilización de PCs adicionales. El sistema completo está
también preparado para cualquier software de procesamiento y visualización de TC
líder en el mercado, tal como Volume Graphics.
Funcionamiento y automatización fáciles
Los usuarios están operativos con unos pocos días de formación. Un asistente de TC
guía a los operarios a través del proceso de adquisición de datos.
Las macros personalizables automatizan el flujo de trabajo de medición, y la
integración estrecha con las aplicaciones de post procesamiento estándares de la
industria racionalizan el proceso de tomar decisiones.
La seguridad es lo principal
El recinto completo de protección – conforme a las normas de seguridad contra la
radiación EC y DIN 54113 – no requiere distintivos especiales o ropa de protección.
Inspección contínua a prueba de fallos durante el funcionamiento del sistema. La
protección contra la radiación es mejor de 1µSv/hora externa, e interruptores/relés
dobles a prueba de fallos garantizan un funcionamiento seguro.
Coste reducido de propiedad
El tubo abierto de rayos X permite el mantenimiento local de los componentes
internos del tubo. Se puede transportar con las 3 ruedas incorporadas para maniobrar
fácilmente a través de las entradas de puerta doble. Además, no se necesita ningún
tratamiento de suelo especial para instalar el XT H 225.
Configure el sistema a sus necesidades específicas
Las aplicaciones específicas requieren imágenes más detalladas o una mayor
precisión. El XT H 225 se puede configurar con diferentes paneles lisos (Varian,
Perkin Elmer) o configuración de fuente (objetivo de reflexión/ transmisión) para hacer
que el sistema se adapte idealmente a sus necesidades.
El sistema XT H 225ST es una versión ampliada para sujetar muestras más grandes
de hasta 50 kg. con un diámetro de aproximadamente 50 cm.
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Especificaciones:
XT H 225
XT H 225 ST
XT H 225/320 LC
Fuente de Rayos X
(Estándar)
Ultrafocalización de
Tubo Abierto
Objetivo de Reflexión
Ultrafocalización de
Tubo Abierto
Objetivo de Reflexión
Ultrafocalización de
Tubo Abierto
Objetivo de Reflexión
Fuente de Rayos X
(Opción)
180Kv Nanotecnología
Objetivo de Transmisión
Objetivo Giratorio
180Kv Nanotecnología
Objetivo de Transmisión
Objetivo Giratorio
320Kv Nanotecnología
Objetivo Giratorio
Kw máximos
225Kv
225Kv
225Kv/ 320 Kv
Potencia Nominal
225W
225W
225W/ 320 W (320Kv
Módulo u Objetivo
Giratorio)
Tamaño del Punto de
Rayos X
3μm
225Kv Ultrafocalización:
3μm
180Kv Transmisión:
1μm
225Kv Ultrafocalización:
3μm
320Kv Módulo: 20μm
Aumento Geométrico
> 150x
> 150x
> 150x
Sistema de
Imágenes
(Estándar)
Varian 2520
Detector de Panel Liso
Varian 2520
Detector de Panel Liso
Varian 2520
Detector de Panel Liso
Sistema de
Imágenes (Opción)
Perkin Elmer 0820
Detector de Panel Liso
Perking Elmer 0820
Exploración de Panel
Perkin Elmer 0820
Detector de Panel Liso
Perking Elmer 0820
Exploración de Panel
Perking Elmer 1620
Detector de Panel Liso
Perking Elmer 1621
Detector de Panel Liso
Perkin Elmer 0820
Detector de Panel Liso
Perking Elmer 1620
Detector de Panel Liso
Perking Elmer 1621
Detector de Panel Liso
5 Ejes
5 Ejes
4 Ejes
(X) 200mm
(Y) 300mm
(Z) 610mm
(Bascular) +/- 30°
(Rotar) n*360°
(X) 460mm
(Y) 470mm
(Z) 600mm
(Bascular) +/- 30°
(Rotar) n*360°
(X) 500mm
(Y) 500mm
(Z) 600mm
(Rotar) n*360°
n.a.
n.a.
Eje de Basculación
Adicional
Manipulador
(Estándar)
Desplazamiento de
los Ejes
Manipulador
(Opción)
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Peso Máximo de la
Muestra
15 kg
50 kg
50 kg
Preparado para TC
Sí
Sí
Sí
Dimensiones del
Armario (Lo x An x
Al)
1773mm x 935mm x
1986mm (incluyendo
torreta de lámparas)
2214mm x 1335mm x
2205mm
3288mm x 1595mm x
2600mm
2.500 kg
4.000 kg
8.000 kg
Todos los sistemas de
rayos X de Nikon
Metrology están
fabricados conforme a
IRR99
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IRR99
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rayos X de Nikon
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Todos los sistemas de
rayos X de Nikon
Metrology están
controlados por el
software Inspect-X
desarrollado en Nikon
Metrology
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controlados por el
software Inspect-X
desarrollado en Nikon
Metrology
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software Inspect-X
desarrollado en Nikon
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Sistema Común
Opciones
Estación de Trabajo de
Reconstrucción de Alta
Velocidad Avanzada
Estación de Trabajo de
Reconstrucción de Alta
Velocidad Avanzada
Estación de Trabajo de
Reconstrucción de Alta
Velocidad Avanzada
Sistema Común
Opciones Multiobjetivo
Metálico (Objetivo de
Reflexión de
Ultrafocalización
Solamente)
Juego Avanzado de
Filtros (Objetivo de
Reflexión de
Ultrafocalización
Solamente)
Opciones Multiobjetivo
Metálico (Objetivo de
Reflexión de
Ultrafocalización
Solamente)
Juego Avanzado de
Filtros (Objetivo de
Reflexión de
Ultrafocalización
Solamente)
Opciones Multiobjetivo
Metálico (Objetivo de
Reflexión de
Ultrafocalización
Solamente)
Juego Avanzado de
Filtros (Objetivo de
Reflexión de
Ultrafocalización
Solamente)
Peso
Seguridad
Control
Aplicaciones: Inspección de Componentes de Aeronaves, Aplicaciones de Troqueles y Moldes,
Análisis de Fallos y Grietas, Implantes/Prótesis, Propagación del daño en material compuesto,
Montajes críticos de dispositivos médicos o sistemas de suministro de medicamentos, Misterios
sin revelar de la naturaleza, Medición automatizada, Cosmética, Mecanismos de corrosión de
metales, Aplicaciones dentales, Examen Manual, Investigación sobre implantes,
Electrodomésticos y productos de línea blanca, Materiales compuestos, Inspección de
Componentes de Automoción, Rocas/Minerales, Tejidos/Textiles, Metalurgia, Granulometría,
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Fabricación de Piezas Metálicas, Fabricación de Piezas de Plástico, Amianto, Teléfonos
móviles, afeitadoras y relojes
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