J.E.N.496 Sp ISSN 0081-3397 Determinación de pequeñas concentracione de elementos en filtros por espectrometría de fluorescencia de rayos X. por DIAZ-GUERRA,J.P. BAYON,A. JUNTA DE ENERGÍA NUCLEAR MADRID,1981 CLASIFICACIÓN INIS Y DESCRIPTORES BU AIR POLLUTION X-RAY FLUORESCENCE ANALYSIS TRACE AMOUNTS ARSENIC BARIUM COBALT CHROMIUM COOPER IRON MERCURY MANGANESE NICKEL LEAD SELENIUM URANIUM VANADIUM ZINC Toda correspondencia en relación con este trabajo debe dirigirse al Servicio de Documentación Biblioteca y Publicaciones, Junta de Energía Nuclear, Ciudad Universitaria, Madrid-3, ESPAÑA. Las solicitudes de ejemplares deben dirigirse a este mismo Servicio. Los descriptores se han seleccionado del Thesauro del INIS para-describir las materias que contiene este informe con vistas a su recuperación. Para más detalles con_ súltese el informe ISEA-INIS-12 (INIS: Manual de Indización) y IAEA-INIS-13 (INIS: Thesauro) publicado por el Organismo Internacional de Energía Atómica. Se autoriza la reproducción de los resúmenes analíticos que aparecen en esta publicación. Este trabajo se ha recibido para su impresión en Octubre de 1. 980 Depósito legal n° M-18987-1981 I.S.B.N. 84-500-4587-8 ÍNDICE Pag. INTRODUCCIÓN APARATOS, MATERIAL Y PRODUCTOS PARTE EXPERIMENTAL Distribución de la intensidad de irradiación del haz primario Estudio espectral Preparación de los filtros patrón Condiciones instrumentales Obtención de las ecuaciones de calibrado .. BIBLIOGRAFÍA 5 5 8 8 11 16 19 DETERMINACIÓN DE PEQUEÑAS CONCENTRACIONES DE ELEMENTOS EN FILTROS POR ESPECTROMETRÍA DE FLUORESCENCIA DE RAYOS X J.P. Díaz-Guerra y A. Bayón* INTRODUCCIÓN Existen problemas en fluorescencia de rayos X que, desde los comienzos de esta técnica, vienen siendo estudia dos con atención creciente; sin duda el principal es el de los efectos interelementales de absorción y de refuerzo. Los métodos empleados para minimizar o corregir estos efe£ tos de matriz difieren, fundamentalmente, o en la forma de preparación de la muestra o en el modelo matemático que re_ presenta al sistema multielemental, respectivamente (1). Uno de los procedimientos menos estudiado y que, sin embargo, puede constituir una solución satisfactoria a dichos efectos es el de análisis de muestras en capa delgada (2,3) . Esta técnica, extraordinariamente sensible, permite el empleo de distintos soportes (filtros de membrana, filtros en profundidad, alúmina sinterizada, resinas cambiadoras, polímeros, etc.) y está encontrando especial aplicación en el campo de la contaminación ambiental (4,5). La naturaleza de los fenómenos que dan origen a la radiación X de fluorescencia conlleva la necesidad de utizar muestras homogéneas, tanto radial como axialmente, si * División de Química y Medio Ambiente. Nuclear. Junta de Energía 2 - se pretende JH -^ui. r^:u_r_r.d - e-ictos. .En el caso de las muestras en solución depositadas sobre filtros, es evi. dente que la forma en que se realice la distribución de los elementos en las dos direcciones indicadas puede condi_ cionar la intensidad de las radiaciones emitidas (6). Esto es así por dos hechos principales: de una parte, el gra_ do de heterogeneidad de la intensidad de irradiación del haz primario; de otra, las propiedades del medio absorbente en relación con las radiaciones primaria y de fluorescencia. En este trabajo se describe un método para la dete£ minación de As, Ba, Co, Cr, Cu, Fe, Hg, Mn, Ni, Pb, Se, U, V y Zn en muestras en solución depositadas sobre filtros, en intervalos de concentración comprendidos entre 0,6 y 1000 ug, según los elementos. Este método ha sido aplicado al análisis de la muestra "Simulated Air Filter, Air-3", distribuida por el Organismo Internacional de Energía Atómica (O.I.E.A.) a trece paises, en 1976, para realizar un estudio comparativo entre distintas técnicas en el que han intervenido veintiún laboratorios (7). Se utiliza un espe£ trómetro automático con ánodo de cromo para la determinación del bario, de molibdeno para As, Hg, Pb, Se y U, y de volframio en el caso de los otros citados. La corrección de la impureza residual y de las interferencias entre las líneas A s K o ^ i ^ c o n PbL©C;Lf2 ^ CrK©*!.^ c o n ^ A l / 3 liza aplicando coeficientes específicos. se re ^. Se ha estudiado muy especialmente la variación de intensidad de irradiación del haz primario en función de la superficie irradiada. A este fin, se han utilizado tubos de rayos X con ánodos de Au, Cr, Mo y W, seleccionando se longitudes de onda comprendidas entre 9,89 X y 0,56 A, representativas del espectro de fluorescencia X (MgKoí, ClKo¿, CuKo¿, BrKoC y AgK©¿) . Se han empleado materiales 3 - muy homogéneos como muestras, realizándose las medidas con diafragmas de diámetros comprendidos entre 4 y 43 mm. Pa_ ra cada longitud de onda, se han utilizado condiciones de excitación uniformes, compatibles con el intervalo de superficies considerado. Las curvas obtenidas muestran un alto grado de heterogeneidad del haz primario, lo que requiere una adecuada distribución de los elementos a deter_ minar en el soporte, tanto en las muestras patrón como en las problema. Esto se consigue mediante el empleo de fil tros de membrana de cloruro de polivinilo, que dan lugar a una distribución radial y axial más homogénea que los de esteres de celulosa. APARATOS, MATERIAL Y PRODUCTOS Espectrómetro de fluorescencia X, Philips PW 1450, A.H.P., automático, secuencial, con generador de 3 KW, tubos con ánodos de Au, Cr, Mo y W, cinco cristales analizadores, detectores proporcional de flujo y de centelleo, selector automático de alturas de impulsos y cargador para d£ ce muestras. - Miniordenador Philips PC 1297, de 16 K, conectado en 1£_ nea al espectrómetro. El tratamiento de datos se real_i za mediante el "sofware" Philips X-150. - Portamuestras Philips PW 1427/10, con diafragmas de alu_ minio o de volframio de 37 mm de diámetro interior para depositar las soluciones; y de aluminio de 5 mm de diámetro interior, utilizados junto con los de 37 mm del mismo material, para la irradiación de las muestras. Los de 5 mm se emplean como soporte de los filtros. - Diafragmas de aluminio, de diámetros comprendidos entre 4 y 43 mm. - Micropipeta Eppendorf, de 50 pl. Filtros Millipore BDWP 04700, de 0,6 pm de tamaño de po ro y 47 mm de diámetro; HAWP 04700, de 0,45 um y 47 mm, y Schleicher and Schüll No. 589-2 "Weissband". - Productos Johnson Matthey, de pureza espectral. - Reactivos Merck p.a. 5 - PARTE EXPERIMENTAL Distribución de la intensidad de irradiación del haz primario El estudio del grado de heterogeneidad del haz pri_ mario se ha llevado a cabo indirectamente, empleando tubos de rayos X con ánodos de Au, Cr, Mo y W en las condiciones indicadas en la Tabla I. En cada caso se han interpuesto diafragmas de aluminio de 4,45; 9,4; 19,4; 25,9; 36,4 y 42,5 mm de diámetro entre el haz primario y el material irradiado, para obtener las intensidades integradas, por unidad de superficie, de las radiaciones de fluorescencia seleccionadas. Los materiales empleados como muestras han sido elegidos atendiendo a su homogeneidad y principa^ les radiaciones características. Se han utilizado cobre metal, magnesio metal y película fotográfica Ilford Indus_ trial G, todos ellos en forma de discos de 51 mm de diáme_ tro. Cono condiciones comunes para todas las medidas se han empleado las siguientes: selector automático de alturas de impulsos, vacío de 0,1 torr en el recinto espectro_ métrico y ventana de 6 íam en el detector proporcional de flujo. Para cada tubo se ha seleccionado la posición más idónea antes de realizar el estudio indicado. En las figuras 1 a 5, se representan las intensida_ des netas de las líneas seleccionadas, en función del dia_ metro de la superficie sometida a la acción del haz prima_ rio. Como puede observarse, las curvas obtenidas muestran .por término medio, incrementos de intensidad relativamente importantes hasta un diámetro próximo a 25 mm, lo que puede tener gran interés para la selección de la superficie soporte que conviene emplear en algunos métodos de capa delgada. En efecto: cuando la muestra irradiada tiene un espesor muy pequeño, la ecuación que relaciona TABLA I Condiciones instrumentales para el estudio de la distribución del haz primario °2e Elemento Línea espectral Pico Fondo (pra) JcV/mA Cristal analizador Colimador Detector Tiempo de recuento (s) Ag Kod / 2 15,93 15,00 150 45/20 LiF (200) C. 20 Br Ko(i,2 29,89 28,50 150 35/12 LiF (200) C. 20 Cl Kc*l, 2 65,42 67,50 550 40/60 PE (002) P.F. 20 Cu Ko(l,2 44,98 43,50 150 16/10 LiF (200) P.F. 20 Mg Kotl,2 44,42 46,50 550 40/60 RbAP(100) P.F. • í r\ (Ti •7 _ la concentración de un elemento con la intensidad de una de sus radiaciones de fluorescencia X es: la = KCapx donde la = Intensidad de la radiación del elemento (a) considerada, (c/s). K = Constante de proporcionalidad del espectrómetro para dicha radiación. Ca = Concentración del elemento en la muestra, (%). P = Densidad de la misma, Cg-cm~3). x = Espesor de dicha muestra, (cm). Esta ecuación es independiente del coeficiente de absorción másico p, (cm .g-1) (3) y mientras se cumpla es_ ta condición, y no existan impedimentos para la distribución homogénea de los elementos constituyentes de la muestra, se obtendrá mejor sensibilidad con superficies sopo£ te de diámetro próximo al indicado. En nuestro caso la correcta distribución radial de las disoluciones en el so_ porte elegido requiere un diámetro mayor de 25 mm. En las figuras 6 a 10 se ilustra la variación de la in-tensidad de irradiación del haz primario en función del diámetro de la superficie irradiada. El examen de e£ tas curvas demuestra que el grado de heterogeneidad de di_ cho haz es considerable, lo que requiere una distribución radial uniforme de los elementos en patrones y muestras. Estudio espectral Entre los inconvenientes que presenta la determinación de los elementos indicados, se encuentra el debido a las interferencias espectrales que, en algunos casos, no pueden obviarse utilizando condiciones de dispersión favorables. Por otra parte, las pequeñas concentraciones consideradas no siempre permiten el empleo de radiaciones menos sensibles, cuando las K©ci 2 ° LO¿JL 2I según los elementos, están interferidas- En tales circunstancias es necesario corregir el solapamiento de lineas mediante procedimientos empírico-matemáticos. En la Tabla II se indican las principales caracte_ rísticas del diagrama espectral de los elementos estudiados. Considerando que en este trabajo se opera en condiciones de capa delgada, se han omitido los datos relacionados con los posibles efectos interelementales de absorción y refuerzo. Preparación de los filtros patrón Partiendo de soluciones valoradas de As, Ba, Co, Cr, Cu, Fe, Hg, Mn, Ni, Pb, Se, U, V y Zn en medio nítrico 0,5 N, se han preparado tres series de soluciones patrón. La primera comprende la totalidad de los elementos estudiados, exceptuando el cromo y el hierro, siendo las otras dos series las correspondientes a estos elementos metálicos. -Para obtener los filtros de referencia, se han depositado, respectivamente, 50 p.1 de cada una de estas soluciones sobre discos Millipore BDWP 04700, utilizando una micropipeta Eppendorf. En la Tabla III se reía cionan las concentraciones adicionadas. 9 - TABLA II Interferencias espectrales Linea analítica (A) Líneas interferentes (£) í2 1,177 PbLoC 1 , 2 HgL A f2 2,777 TiKoC 1 , 2 CuK^ 1 , 3 ,2 1,790 f2 2,291 1,176 1,164 2,750 1,392 ( 2 a orden) FeK/3 1 , 3 1,757 VK/31 , 3 2,284 2,242 BaL£- 1 BaLy 2,309 ^ 1,542 FeKo<i f 2 1/937 2 1,242 ,2 2 , 1 0 3 1,659 P b L / 3 i , 2 0,983 2 1,106 0,912 2,505 1,436 MnK/3 1 , 3 1,910 0,969 PbL/3 3 ( 2 a orden) PbLs 1,244 CrK/S 1 , 3 2,085 1,678 WL1 SeK/3 1 , 3 0,992 1,092 PbL/t. AgKc¿ 1 , 2 0 , 5 6 1 ( 2 a orden) 0,896 HgL f 1 TiK/3 1 , 3 2,514 BaL/S 3 2,516 1,245 ( 2 a orden) WL/3 2 1,263 ( 2 a orden) WL/33 1,421 WL/x UL/3i M0K0C 1 , 2 0,720 ( 2 a orden) 0 , 7 1 1 ( 2 a orden) 10 - TABLA . III Concentraciones absolutas de los elementos en los filtros patrón (pg) Serie General FG-1 FG-2 FG-3 FG-4 FG-5 FG-6 2,5 12,5 2,5 2,5 2,5 2,5 2,5 1,25 6,25 1,25 1,25 1,25 0,625 3,125 1,25 1,25 1,25 1,25 1,25 1,25 0,625 0,625 0,625 0,625 0,625 AS Ba 20 100 10 50 5 25 Co Cu Hg Mn 20 20 20 20 20 20 20 20 20 10 10 10 10 10 10 10 10 5 5 5 5 5 5 5 5 10 50 5 25 Ni Pb Se ü V Zn 100 2,5 2,5 2,5 2,5 12,5 6,25 FG-Blanco 0,625 0,625 0,625 0,625 3,125 Serie del Cromo FCr-1 Cr 20 FCr-2 FCr-3 10 FCr-4 FCr-5 FCr-6 2,5 1,25 0,625 FCr-Blanco Serie del Hierro FFe-1 Fe 1000 FFe-2 - 500 FFe-3 FFe-4 FFe-5 FFe-6 250 125 62,5 31,25 FFe-Blanco 11 - Los ensayos efectuados han permitido comprobar que solamente puede adicionarse una gota en cada filtro, ya que la difusión de una segunda arrastra a los elementos previamente depositados hacia la periferia, donde, según se ha demostrado anteriormente, la intensidad de irradiación es menor. Entre los distintos tipos de filtros- considerados en este trabajo, el antes citado da lu_ gar a la distribución radial más homogénea de los elemen tos en la superficie sometida a la acción de los rayos X. Este hecho es observable directamente en el caso de cier_ tos iones coloreados (CrC>42~, C u 2 + , F e 3 + , UC>22+, etc.). En cuanto a la distribución axial, las medidas realizadas irradiando ambas caras de los filtros Millipore BDWP 047 00, conteniendo la máxima concentración de los elementos estudiados, proporcionan resultados significativamente iguales. Condiciones instrumentales Teniendo en cuenta las pequeñas concentraciones de los elementos estudiados, se ha llevado a cabo una cuidadosa selección de las condiciones de excitación y medida, con objeto de poder realizar conjuntamente distintas determinaciones, consiguiendo curvas de calibrado de adecuada sensibilidad. Para todos los elementos se emplea colimador pri_ mario de 150 um, vacío de 0,1 torr en el recinto espectrométrico, ventana de 1 um de polipropileno en el dete£ tor proporcional de flujo y selector automático de alturas de impulsos. Las condiciones instrumentales específicas de cada elemento se relacionan en la Tabla IV. TABLA IV Condiciones instrumentales de excitación y medida del método analítico °2 e Línea espectral Tubo de rayos X Tiempo de recuento(s) kV/mA Cristal analizador Detector MD 60/45 LiF (220) P.F.+C. 100 88,50 Cr 50/45 LiF (200) P.F. 100 52,75 53,70 W 50/45 LiF (200) P.F. 40 107,10 108,50 W 60/45 LiF (220) P.F. 100 K<*1,2 44,97 46,00 60/45 LiF (200) P.F.+C. 40 Fe KofL,2 85,71 87,00 w w 50/45 LiF (220) P.F. 20 Hg Lo^l,2 35,84 35,10 Mo 60/45 LiF (200) P.F.+C. Mn &*1,2 95,18 96,50 W 60/45 LiF (220) P.F. 40 Ni K<*1,2 48,63 50,00 W 50/45 LiF (200) P.F. 40 Pb L/31,2 (LoCj[ 2) 40,33 39,50 MD 60/45 LiF (220) P.F.+C. 100 48,75 50,00 MD 60/45 LiF (220) P.F.+C. 100 Se Kot| 2 31,81 32,70 MD 60/45 LiF (200) P.F.+C. 40 U Lo¿]_ 2 26,07 27,00 MD 80/20 LiF (200) C. 40 Pico Fondo K<*1,2 L<*1,2 48,75 50,00 87,15 Cr K*l,2 K<*1,2 Cu Elemento As Ba Co 100 I TABLA IV (Continuación) °2 e Elemento V Línea espectral K«*l,2 (K/3l,3) b Zn KoCl,2 Pico Fondo Tubo de rayos X kV/mA Cristal analizador 123 ,16 122 ,00 W' 60/45 LiF (220) P.F. 40 107 ,10 108 ,50 W 60/45 LiF (220) P.F. 100 41 ,74 40 ,90 W 50/45 LiF (200) P.F.+C. a, en la posición angular de la línea AsKoC-^ 2 7 Detector Tiempo de recuento(s) 40 b, en la posición angular de la línea CrKc^C^ 2 • I 14 - Además de los procedimientos convencionales de medida de intensidades -tiempo prefijado e impulsos prefijados- el espectrómetro empleado en este trabajo permi_ te seleccionar el método de tiempo variable denominado "ratio", para la corrección de la deriva instrumental. Se ha comprobado que cuando las intensidades emitidas son pequeñas este método no resulta conveniente, ya que dicha deriva queda parcialmente enmascarada por las variaciones estadísticas de los impulsos detectados. Por tanto, la actualización del tiempo de medida en tales condiciones está basada, en parte, en un hecho muy aleatorio. Como consecuencia, se ha preferido utilizar el procedimiento de tiempo prefijado, que da lugar a resultados más precisos; el de impulsos prefijados requiere tiempos excesivamente largos al disminuir las concentraciones de los elementos, lo que resulta incompatible con el grado de resistencia mecánica de los filtros a la radiación X. El empleo de un cristal de LiF (220) permite obviar la mayor parte de las posibles interferencias que se indican en la Tabla II; sin embargo, las determinaci£ nes del arsénico y del cromo requieren la corrección de las contribuciones de las líneas l?bLo¿.ir2 y VK/3i 3' r e £ pectívamente. Para el arsénico se emplea la ecuación: I AsKo¿i/2= IT (ASK<X.)-KÍIF - KJ^? I PbL/3^2 siendo I la intensidad de línea neta; Iip la intensidad total medida en la posición angular correspondiente a la línea analítica; K± un factor de proporcionalidad (cuyo significado exacto se indica en el apartado siguiente) 15 - que tiene en cuenta la contribución de la impureza resiPb dual; Ip la intensidad media del fondo espectral y Kj^g una constante que se calcula, utilizando filtros exentos de arsénico, a partir de la expresión: PbLoCl,2 K As I (AsKo¿) PbL/3lf2 donde I P b L ^ i ^ (AsKoC) representa la intensidad neta de la línea PbL aC±r2 medida en la posición angular correspori diente a la línea AsKwí.1,2 e * ^^^(^l,! l a intensidad neta de esta radiación del plomo, libre de interferencias en determinadas condiciones. En el caso del cromo la ecuación utilizada es: donde I, I T , K-¡_ e Ip tienen el significado ya conocido, siendo K^ r una constante que se calcula, empleando filtros exentos de cromo, a partir de la relación: I VK/3i,3 (CrKo<.) I VKoCi / 2 donde I VK/3^3 (CrKo<.) es la intensidad neta de la línea VK/3iir3 medida en la posición angular correspondiente a la línea CrKcx:^ 2 »e -^ V K o C l , 2 ^ a intensidad neta de esta radiación del vanadio. 16 - Para la determinación del plomo, se han obtenido mejores resultados empleando la línea Pb/3i,2 en lugar de la PbLod,2» Esta última está interferida por la Kc*i,2 del arsénico, siendo difícil corregir esta interferencia con suficiente exactitud ya que la radiación AsK/31,3 (1,057 S) , necesaria para el cálculo de la constante correspondiente, tiene una longitud de onda muy próxima a la radiación L^9i del mercurio (1,04 9 A ) . Obtención de las ecuaciones de calibrado Para obtener las curvas de calibrado, se han medi_ do las intensidades de las líneas analíticas y de sus correspondientes fondos en las condiciones citadas anterior mente. La presencia de trazas de distintos elementos en los filtros y en los diafragmas soporte y la contribución de algunas radiaciones procedentes del anticátodo del tubo de rayos X -especialmente CuKaíj.,2 Y FeK o<i,2""' hacen necesaria la corrección de la impureza residual para obte_ ner resultados exactos. A este fin, se calcula la relación K± = Ip+p/Ip correspondiente a cada elemento, utilizando los filtros patrón "Blanco". En esta relación, Ip+F es la intensidad total medida en la posición angular de la línea analítica e Ip la intensidad del fondo espectral , en una zona de intensidad equivalente a la que se obtendría en la posición del pico. Para los restantes pa_ trones, los distintos factores K±, que se relacionan en la Tabla V, se multiplican por las correspondientes inten sidades del fondo Ip para deducir los valores de las impu rezas residuales. Be esta forma pueden obtenerse intensi_ dades corregidas, que se representan frente a las respec- 17 TABLA V Valores del coeficiente de corrección del fondo y de la impureza residual con filtros Millipore BDWP 047 00 Linea espectral K± 2 BaLo¿i,2 1,14 i'11 ' CoKo4i,2 1,05 CrK ©¿1,2 1,97 2 2.53 2 " 4,11 2 1,01 ,2 1,37 NiKoíl,2 1.18 2 1,00 2 1,06 1,10 0/74 1,05 - 18 - tivas concentraciones para obtener las rectas de calibra^ do, cuyos principales parámetros vienen dados en la tabla VI. TABIui VI Parámetros de l a s r e c t a s de calibrado Elemento Sensibilidad (c.s~l.ug~l) Ordenada en el origen (c/s) Desviación típica media relativa (%) As 49,3 »5,5 1,3 Ba 100,2 14,5 0,3 Co 432,9 3,5 0,8 Cr 100,0 34,8 7,1 Cu 268,8 29,4 1,9 Fe 62,9 2,0 2,7 Hg 43,1 3,4 3,2 Mn 78,2 -3,2 0,6 Ni 452,5 -0,9 0,8 Pb 22,8 -1,5 1,9 Se 135,7 -5,2 1,9 U 29,6 -1,9 4,2 V 85,1 -1,7 0,9 230,9 -15,7 0,7 Zn 19 - La gran sensibilidad obtenida para el cobalto y el níquel se debe, en parte, a la excitación preferente produ_ cida por la radiación WLoCi f 2/ cuya energía (8,39 keV) es ligeramente superior a las de las discontinuidades de absorción K de estos elementos (7,71 y 8,33 keV, respectivamente) . El análisis de las muestras se realiza en las condiciones citadas anteriormente, aplicando las correcciones de impureza residual e interferencias indicadas. Los valores de los parámetros de las rectas de calibrado deben ser actualizados periódicamente, lo que requiere la comprobación de los factores K¿ para cada lote de fil_ tros. El método puede ser aplicado al análisis de mue£ tras de polvo atmosférico, si bien en este caso la exactitud obtenida dependerá, fundamentalmente, de la distri_ bución en profundidad de los elementos contaminantes y de las longitudes de onda de las radiaciones analíticas. Dicha distribución puede ser modificada convenientemente mediante el empleo de filtros adecuados para la toma de muestra. 20 - BIBLIOGRAFÍA (1) JENKINS, R.; "Advances in X-Ray Analysis", vol. 19, Kendall/Hunt Publishing Co. Dubuque, Iowa (1976), pag. 1. (2) GüNN, E.L.; Anal. Chera. 3_3 (1961), 921. (3) CHUNG, F.H., LENTZ, A.J. y SCOTT, R.W.; X-Ray Spectrometry _3 (1974), 172. (4) GILLFRICH, J.V., BÜRKHALTER, P.G. y BIRKS, L.S.; Anal. Chem. 4_5_ (1973), 2002. 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O 5J W 4 - / O Au / ^ 2Mo - ^ — - — —o——o 0- S ^ ( Fig. 3.- i ¿ i 3 Diámetro (cm) I 4 VARIACIÓN DE LA INTENSIDAD DE LA LINEA EN FUNCIÓN DEL DIAiMETRO DE LA SUPERFICIE IRRA DIADA, EMPLEANDO DIFERENTES TUBCS DE RAYOS X COMO FUENTE DE EXCITACIÓN. 80- 0 Diámetro (cm) Fig. 4.- VARIACIÓN DE LA INTENSIDAD DE LA LINEA EN FUNCIÓN DEL DIÁMETRO DE LA SUPERFICIE IRRA DIADA, EiMPLEANDO DIFERENTES TUBOS DE RAYOS X COMO FUENTE DE EXCITACIÓN. .-<3n 5.¿4f 50- 40- ro i O o 30- / 20. i> w —0 * -0 Au 10- / / / —a 0- ( Fig. 5.- Diámetro (cm) Mo a 4 VARIACIÓN DE LA INTENSIDAD DE LA LINEA MgK 2*. EN FUNCIÓN DEL DIÁMETRO DE LA SUPERFICIE IRRA DIADA, EMPLEANDO DIFERENTES TUBOS DE RAYOS X COMO FUENTE DE EXCITACIÓN. 200- 0 0 Fig. 6.- Diámetro (cm) CURVAS DE INTENSIDAD POR UNIDAD DE SUPERFICIE IRRADIADA, EN FUNCIÓN DEL DIÁMETRO DE LA MISMA, OBTENIDAS CON LA LINEA AgKo¿ PARA TUBOS DE RAYOS X CON ÁNODOS DE Au, Cr, Mo y W. J.EM--0Q-<ír 5.643 20- 15- £ u T" 10- ó O CD I. 0 Fig. 7.- . 3 Diámetro (cm) 4 CURVAS DE INTENSIDAD POR UNIDAD DE SUPERFICIE IRRADIADA, EN FUNCIÓN DEL DIÁMETRO DE LA MISMA, OBTENIDAS CON LA LINEA BrK CL PARA TUBOS DE RAYOS X CON ÁNODOS DE Au, Cr, Mo y W. I O I o I 10 o o 3 4 Diámetro (cm) Fig. 8.- CURVAS DE INTENSIDAD POR UNIDAD DE SUPERFICIE IRRADIADA, EN FUNCIÓN DEL DIÁMETRO DE LA MISMA, OBTENIDAS CON LA LINEA C1K O¿ PARA TUBOS DE RAYOS X CON ÁNODOS DE Au, Cr, Mo y W. J.£ tí--ÜCL- 20- 15i O CM U T* 10I ó a 3 ü 0 Fig. 9.- Diámetro (cm) CURVAS DE INTENSIDAD POR UNIDAD DE SUPERFICIE IRRADIADA, EN FUNCIÓN DEL DIÁMETRO DE LA MISMA, OBTENIDAS CON LA LINEA CuKCC PARA TUBOS DE RAYOS X CON ÁNODOS DE Au, Cr, Mo y W. J.E.fiJ. -D0.-<rr i". 20- 15O i £o T 10- ó en 0 Fig. 10.- 3 4 Diámetro (cm) CURVAS DE INTENSIDAD POR UNIDAD DE SUPERFICIE IRRADIADA, EN FUNCIÓN DEL DIÁMETRO DE LA MISMA, OBTENIDAS CON LA LINEA HgK ce PARA TUBOS DE RAYOS X CON ÁNODOS DE Au, Cr, Mo y W. J. E.N. 496 Junta da Energía Nuclear. J.E.N. 496 División de Química y Hedió Ambiente. Madrid. "Determinación de pequeñas concentraciones de elementos en filtros por espectrometría de fluorescencia de rayos X". DIAZ-GUERRA, J . P . ; BAYON, A. (1981) 30 pp; 1 0 f i g s . 7 r e f s . Se describe un método para l a determinación de As, Ba, Co, Cr, Cu, Fe, Hg, Hn, N i , Pb, Se, U, V y Zn por fluorescencia de rayos X'en Intervalos de concentración compre]} didos entre 0,6 y 1000JJIJ, según los elementos, utilizando f i l t r o s de cloruro de p o l i v i n i l o como soporte. Se emplea un espectrómetro secuencial automático con tubo da ero mo para l a determinación del Ba, de molibdeno para As, Hg, Pb, Se y U y de volframio en el caso de los otros citados. La corrección de las interferencias entre las líneas A s K ^ i 2 con PbL°¿ i j Y CrK°í -| 2 con VK / 3 i r 3 se lleva a cabo aplicando coeficientes específicos. Se ha estudiado muy especialmente l a variación radial de l a intensidad de Irradia- J. E.N. 496 Junta de Energía Nuclear. División de.Química y Medio Ambiente. Hadrid. Junta de Energía Nuclear. División de Química y Hedió Ambiente. Hadrid. "Determinación de pequeñas concentraciones de elementos en filtros por espectrometría de fluorescencia de rayos X". DIAZ-GUEÉA, J.P.; BAYON, A. (1981) 30 pp. 10 f i g s . 7 refs. Se describe un método para l a determinación de As, Ba, Co, Cr, Cu, Fe, Hg, Hn, N i , Pb, Se, U, V y Zn por fluorescencia de rayos X en intervalos de concentración compren didos entre 0,0 y 1000 ug, según los elementos, utilizando f i l t r o s de cloruro de polj. v i n i l o como soporte. Se emplea un espectrómetro secuencial automático con tubo de ero mo para l a determinación del Ba, de molibdeno para As, Hg, Pb, Se y U y de volframio en el caso de los otros citados. La corrección de las interferencias entre las líneas AsK0''-! 2 con PbL °^"i f 2 y CrK °¿-| 2 con VK/J-j 3 se lleva a cabo aplicando coeficientes específicos. Se ha estudiado muy especialmente l a variación radial de l a intensidad de irradia- J. E.N. 496 Junta de Energía Nuclear. División de Química y Hedió Ambiente. Hadrid. "Determinación de pequeñas concentraciones de elementos en filtros por espectrometría de fluorescencia de rayos X". DÍAZ-GUERRA, J . P . ; BAYON, A. (1981) 30 pp. 1 0 f i g s . 7 r e f s . "Determinación de pequeñas concentraciones de elementos en filtros por espectrometría de fluorescencia de rayos X". DIAZ-GUERRA, J . P . ; BAYON, A. (1901) 30 pp. 1 0 f i g s . 7 r e f s . Se describe un método para l a determinación de As, Ba, Co, Cr, Cu, Fe, Hg, Hn, N i , Pb, Se, U, V y Zn por fluorescencia de rayos X en intervalos de concentración comprerj didos entre 0,6 y 1000yUg, según los elementos, utilizando f i l t r o s de cloruro de polT v i n i l o como soporte. Se emplea un espectrómetro secuencial automático con tubo de ero mo para l a determinación del Ba, de molibdeno para As, Hg, Pb, Se y U y de volframio en el caso de los otros citados. La corrección de las interferencias entre las líneas AsKoí.-j 2 c o n PhLoí •] 2 y CrKtf •] 2 c o n VK /J 1,3 s e H e v a aca^° aplicando coeficientes específicos. Se describe un método para l a determinación de As, Ba, Co, Cr, Cu, Fe, Hg, Hn, N i , Pb, Se, U, V y Zn por fluorescencia de rayos X en intervalos de concentración compren didos entre 0,6 y 1000pg, según los elementos, utilizando f i l t r o s de cloruro de polT-[ v i n i l o como soporte. Se emplea un espectrómetro secuencial automático con tubo de cro-i mo para l a determinación del Ba, de molibdeno para As, Hg, Pb, Se y U y de volframio * en el caso de los otros citados. La corrección de las interferencias entre las líneas AsK°< -| 2 con P b L f - ] 2 y CrK<*-| 2 con VK ft-\ 3 se lleva a cabo aplicando coeficientes específicos. Se ha estudiado muy especialmente l a variación radial de l a intensidad de i r r a d i a - Se ha estudiado muy especialmente l a variación radial de l a intensidad de I r r a d i a - ción del haz primario en la superficie sometida a la acción de los rayos X. Para e l l o , se han empleado tubos con ánodos de cromo, molibdeno, oro y volframio, seleccionando longitudes de onda del espectro de fluorescencia comprendidas entre 9,89 A y 0,56 A. Las curvas obtenidas muestran un alto grado de heterogeneidad de dicho haz, lo que re quiere una distribución homogénea de los elementos en el soporte. clon del haz primario en la superficie sometida a la acción de los rayos X. Para e l l o , se han empleado tubos con ánodos de cromo, molibdeno, oro y volframio, seleccionando longitudes de onda del espectro de fluorescencia comprendidas entre 9,89 Ji y 0,56 8. Las curvas obtenidas muestran un alto grado de heterogeneidad de dicho haz, lo que re quiere una distribución homogénea de los elementos en el soporte. CLASIFICACIÓN INIS Y DESCRIPTORES: B11. Air pollution. X-ray fluorescence analysis. Trace amounts. Arsenic. Barium. Cobalt. Chromium. Cooper. Iron. Hercury. Hanganese. Nickel. Lead. Selenium. Uranium. Vanadium. Zinc. CLASIFICACIÓN'INIS Y DESCRIPTORES: B11. Air pollution. X-ray fluorescence analysis. Trace amounts. Arsenic. Barium; Cobalt. Chromium. Cooper. Iron. Hercury. Hanganese. Nickel. Lead. Selenium. Uranium. Vanadium. Zinc. clon del haz primario en l a superficie sometida a l a acción de los rayos X. Para e l l o , se han empleado tubos con ánodos do cromo, molibdeno, oro y volframio, seleccionando longitudes de onda del espectro de fluorescencia comprendidas entre 9,89 A y 0,56 A. Las curvas obtenidas muestran un alto grado de heterogeneidad de dicho haz, lo que re quiere una distribución homogénea de los elementos en el soporte. clon del haz primario en la superficie sometida a la acción de los rayos X. Para e l l o , se han empleado tubos con ánodos de cromo, molibdeno, oro y volframio, seleccionando longitudes de onda del espectro de fluorescencia comprendidas entre 9,89 A1 y 0,56 A. Las curvas obtenidas muestran un alto grado de heterogeneidad de dicho haz, lo que re quiere una distribución homogénea de los elementos en el soporte. CLASIFICACIÓN INIS Y DESCRIPTORES: B11. Air pollution. X-ray fluorescence analysis. CLASIFICACIÓN INIS Y DESCRIPTORES: B11. Air pollution. X-ray fluorescence analysis. Trace amounts. Arsenic. Barium. Cobalt. Chromium. Cooper. Iron. Hercury. Hanganese. Trace amounts. Arsenic. Barium, Cobalt. Chromium. Cooper. Iron. Hercury. Hanganese. Nickel. Lead. Selenium. Uranium. Vanadium. Zinc. Nickel. Lead. Selenium. Uranium. Vanadium. Zinc. J.E.N. 496 Junta de Energía Nuclear. División de Química y Hedió Ambiente. Madrid. "An X-ray fluorescence method for the determina tion of small quantities of elements collected on filters" DÍAZ-GUERRA, J . P . ; BAYON, A. (1981) 30 pp. 10 f i g s . 7 refs. An X-ray fluorescence method for the determinatlon of As, Ba, Co, Cr, Cu, Fe, Hg, fin, Ni, Pb, Se, U, V and Zn collected on P.V.C. f i l t e r s in concentration ranges from 0,6 to 1000 yug, depending on the element, i s described. A sequential automatic spectrometer with a chromium tube i s used for the Ba determinatlon, while As, Hg, Pb, Se and U are better determined with a molybdenum one. For the rest of the elements a tungsten target is-prefered. The interferences between AsK°¿ •] ] ii - PbL <=í -jj 2 and CK°¿ VK3 U t d b l i f i ffiit CrK°¿-| 2 - VK¿3 -) 3 Unes are corrected by applyng specific coefficients. The radial variation of tho primary X-ray beam intensity on the irradiated durface has been specially studied with chromium, gold, molybdenum and tungsten tubes. For Junta de Energía Nuclear. División de Química y Medio Ambiente. Madrid. "An X-ray fluorescence method for the determination of small quantities of elements collected on filters"J DÍAZ-GUERRA, J.P.; BAYON, A. (1981) 30 pp. 10 figs. 7 refs. An X-ray fluorescence method for the determination of As, Ba, Co, Cr, Cu, Fe, Hg, Mh, Ni, Pb, Se, U, V and Zn collected on P.V.C. f i l t e r s in concentration ranges from 0,6 to 1000yug, depending on the element, Is described. A sequential automatic spectrometer with a chromium tube i s used for the Ba dotermination, while As, Hg, Pb, Se and U are better determined with a molybdenum one. For the rest of the elements a tungsten target Is prefered. The interferences between AsK 0 ^ 2 - PbL °(<\ 2 an d CrK<*i 2 - W ^ 1 3 linos are corrected by applyng specific coefficients. Tho radial variation of the primary X-ray beam Intensity on tho irradiated surfaco has been specially studied with chromium, gold, molybdenum and tungsten tubes. For J.E.N. 496 J.E.N. 496 Junta de Energía Nuclear. División de Química y Medio Ambiente. Madrid. An X-ray fluorescence method for the determination of small quantities of elements collected on filters" Junta de Energía Nuclear. División de Química y Medio Ambiente. Madrid. "An X-ray fluorescence method for the determination of small quantities of elements collected on filters1 DIAZ-GUERRA, J . P . ; BAYON, A. (1981) 30 pp, 1 0 figs. 7 r e f s . 11 i J.E.N. 496 DÍAZ-GUERRA, J.P.; BAYON, A. (1981) 30 pp. 10 figs. 7 refs. An X-ray fluorescence method for the determinatlon of As, Ba, Co, Cr, Cu, Fe, Hg, Mn, Ni, Pb, Se, U, V and Zn collected on P.V.C. f i l t e r s In concentration ranges from 0,6 to 1000 íjg, depending on the element, i s described. A sequential automatic spectrometer with a chromium tube Is used for the Ba determinatlon, while As, Hg, Pb, Se and U are better determined with a molybdenum one. For the rest of the elements a tungsten target Is prefered. The intorferences between AsK°¿ -] 2 " ^ L °*-¡ i and CrlW C l W -| |22 " ^ (^ 1 33l ' n e s a r Q corrected t d by b applyng l specific f coefficients. di variation The radial ti of f th the primary i X-ray X beam b Intensity I t i t on the th i irradiated d i surface has been specially studied with chromium, gold, molybdenum and tungsten tubes. For An X-ray fluorescence method for the determination of As, Ba, Co, Cr, Cu, Fe, Hg, Mn, Ni, Pb, Se, U, V and Zn collected on P.V.C. f i l t e r s in concentration ranges from 0,6 toiOOOiig, depending on the element, i s described. A sequential automatic spectrometer with a chromium tube is used for tho Ba determination, while As, Hg, Pb, Se and U are botter determined with a molybdenum one. For the rest of the elements a tungsten target is prefered. The interferences between AsIW-] 2 - PbLcy -| 2 and CrK**-] 2 " VK/3-j 2 Unes are corrected by applyng specific coefficients. The radial variation of tho primary X-ray boam intensity on the irradiated surface has been specially studied with chromium, gold, molybdenum and tungsten tubes. For that purposñ ilifferent x~ray wavelengths in the range 9,89 A to 0,56 A have boen selected. The curves obtained show a rather high heterogeneity for the excitation source. This conclusión implies the need for an homoganeous distribution of elements on the f i l t e r . that purpose different x-ray wavelengths in the range 9,89 jj to 0,56 A have been selected. The curves obtained show a rather high heterogeneity for the excitation source. This conclusión implies the need for an homogeneous distribution of elements on the f i l t e r . INIS CLASSIF¡CATIÓN AND DESCRIPTORS: B11. Air pollution. X-ray fluoresconce analysisj INIS CLASSIFICATION AND DESCRIPTORS: B11. Air pollution. X-ray fluorescence analysis. Trace aroounts. Arsenic. Barium. Cobalt. Chromium. Cooper. I ron. Mercury. Manganese. Trace amounts. Arsenic. Barium. Cobalt. Chromium. Cooper. I ron Mercury. Manganese. Nickel. Lead» Selenium. Uranium. Vanadium. Zinc. Nickel. Lead. Selenium. Uranium. Vanadium. Zinc. that purpose different x-ray wavelengths in the range 9,89 A to 0,56 Á have been selected. Ihu curves obtained show a rather high heterogeneity for the excitation source. This conclusión implies the need for an homoíteneous distribution of elements on the f i ' l t o r . that purpose different x-ray wavelengths in the range 9,89 A to 0,56 A have been selected. The curves obtained show a rather high heterogeneity for the excitation source. This conclusión implies the need for an homogeneous distribution of eleinents on the f i l t e r . INIS CLASSIFICATION AND DESCRIPTORS: B11. Air pollution. X-ray fluorescence analysis. Trace amounts. Arsenic. Barium. Cobalt. Chromium. Cooper. I ron. Mercury. Manganese. Nickel. Lead- Selenium. Uranium. Vanadium. Zinc. INIS CLASSIFICATIÜN AND DESCRIPTORS: B11. Air pollution. X-ray fluorescence analysis. Trace amounts. Arsenic. Barium. Cobalt. Chromium. Cooper. Iron. Mercury. Manganese. Nickel. Lead. Selenium. Uranium. Vanadium. Zinc.