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XIX Verano de la Investigación Científica y Tecnológica del Pacífico
GENERACIÓN DE SEGUNDO ARMÓNICO EN SUPERFICIES DE SILICIO
Sthefanie Izamar Sandoval Rodriguez, CEFYMAP de la Universidad Autónoma de
Chiapas. izamar_estefa@hotmail.com. Asesor Ramón Carriles Jaimes del Centro
de Investigación de Óptica (CIO). ramon@cio.mx.
PLANTEAMIENTO DEL PROBLEMA
La Óptica no lineal estudia aquellos fenómenos inducidos por luz de intensidades muy
elevadas, en comparación con los fenómenos que se estudian en la óptica lineal. En
particular, la Generación de Segundo Armónico es un efecto óptico no lineal de segundo
orden. Su interés radica en que para materiales centrosimétricos resulta ser sensible a
las superficies o interfaces de los sistemas. Este efecto se estudiará en obleas de silicio
de grado microelectrónico. Estudiaremos la señal de segundo armónico en presencia de
un campo de radiación electromagnética es decir de luz. Por lo que es necesario hacer
uso de las instalaciones del Laboratorio de Óptica Ultrarrápida, ya que cuenta con los
materiales ópticos necesarios para llevar a cabo este efecto.
METODOLOGIA
Cuando la luz que incide en un material es suficientemente intensa se comienzan a
manifestar una serie de fenómenos no lineales como es el caso de SHG, en el sentido
de que la respuesta óptica del material deja de depender linealmente con el campo
eléctrico aplicado. En tal caso la polarización eléctrica del material está expresada en
una serie de potencias del campo eléctrico. De esta serie se toma el término de segundo
orden, si consideramos un campo eléctrico incidente, tendremos como resultado que
existirán nuevas frecuencias, tales como el segundo armónico.
Para confirmar los resultados obtenidos de manera analítica es necesario el
procedimiento experimental. Cabe mencionar que este procedimiento lleva horas dentro
de un laboratorio, que consiste de alineaciones de láser, y una serie de componentes
ópticos que modifican a nuestra conveniencia el láser, además de mediciones del
número de fotones de segundo armónico producidos respecto a un ángulo específico.
CONCLUSIONES
Existe cierta discrepancia entre las mediciones obtenidas y los resultados teóricos los
cuales pueden ser a causa de diversos factores tales como daño en la muestra de silicio,
y ruido.
© Programa Interinstitucional para el Fortalecimiento de la Investigación y el Posgrado del Pacífico
Agosto 2014
XIX Verano de la Investigación Científica y Tecnológica del Pacífico
© Programa Interinstitucional para el Fortalecimiento de la Investigación y el Posgrado del Pacífico
Agosto 2014