MICROSCOPIA DE FUERZA AT ôMICA

SIP-31
INSTITUTO POLITÉCNICO NACIONAL
SECRETARIA DE INVESTIGACIÓN Y POSGRADO
DIRECCIÓN DE POSGRADO
FORMATO GUÍA PARA REGISTRO DE CURSOS DE PROPÓSITO ESPECÍFICO
Hoja 1 de 3
I.
DATOS DEL CURSO DE PROPÓSITO ESPECÍFICO
1.1
NOMBRE DEL CURSO
O MÒDULO:
1.2
CLAVE:
1.3
NÚMERO DE HORAS:
1.4
VALOR CURRICULAR:
1.5
SESIÓN DEL COLEGIO DE PROFESORES EN QUE
SESIÓN No.
SE ACORDÓ LA IMPLANTACIÓN DEL CURSO:
CURSO BÁSICO DE MICROSCOPIA DE FUERZA ATÓMICA
(Para ser llenado por la SIP)
35
TEORÍA
10
PRACTICA
25
T-P
(Para ser llenado por la SIP)
FECHA:
d
1.6
FECHA DE REGISTRO EN SIP:
1.7
FECHA DE INICIO:
1.8
FECHA DE TERMINACIÒN:
DIRIGIDO A:
a
(Para ser llenado por la SIP)
d
1.9
m
m
a
Publico General
1.10 REQUISITOS DE INSCRIPCIÓN:
De preferencia personas con estudios de licenciatura.
1.11 RECONOCIMIENTO ACADÉMICO A OTORGAR:
Diploma
ANEXAR TRIPTICO O MATERIAL UTILIZADO PARA DIVULGACI ÓN
II.
DATOS DE LOS EXPOSITORES
PROFESOR:
Dr Juan Vicente Méndez Méndez
PROCEDENCIA:
Centro de Nanociencias y Micro y Nanotecnologías
PROFESOR:
Dr Israel Arzate Vazquez
PROCEDENCIA:
Centro de Nanociencias y Micro y Nanotecnologías
ANEXAR CURRICULUM VITAE DE LOS EXPOSITORES
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III.
DESCRIPCIÓN DEL CONTENIDO DEL PROGRAMA DE LA ASIGNATURA
III.1
OBJETIVO GENERAL:
El alumno aprenderá de manera teórica y practica el principio de funcionamiento del Microscopio de
Fuerza Atómica y aplicaciones en materiales orgánicos e inorgánicos
III.2 DESCRIPCIÓN DEL CONTENIDO
TEMAS Y SUBTEMAS
1. Introducción .
TIEMPO
30 min
1.1 Historia del Microscopio de Fuerza Atómica.
1.1.1 Microscopio de tunelamiento .
1.1.2 Microscopio de fuerza atómica.
2. Componentes del Microscopio de Fuerza Atómica.
2h
2.1 Controlador.
2.2 Amplificador de voltaje.
2.3 Display.
2.4 Escaner piezoeléctrico.
2.5 Cabeza óptica.
2.5.1 Laser.
2.5.2 Fotosensor.
2.5.2.1 Fotosensor 2 cuadrantes .
2.5.2.1 Fotosensor 4 cuadrantes.
2.6 Espejo.
2.7 Viga en voladizo.
3. NanoScope (Software interface Usuario-Microscopio).
2h
4. Principio de Funcionamiento.
2h
4.1 Esquema de funcionamiento.
5. Comportamiento de la Viga al acercarse a una superficie.
1h
5.1 Curva de deflexión de la viga vs distancia de la viga-Superficie
6.
Modos de operación.
6.1 Modo contacto.
6.2 Modo intermitente.
1h
6.2.1 Intermitente no contacto.
6.2.2 Intermitente contacto.
6.2.3 Intermitente PeakForce.
6.3 Modo ScanAsyst
6.4 Modo magnético
6.5 Nanolitografía
6.6 Modo fuerza Eléctrica
7. Selección de viga a utilizar.
1h
7.1 Generalidades sobre selección de vigas en voladizo.
8. Muestras.
8.1 Generalidades sobre preparación de muestras.
30 min
Práctica
9. Partes del AFM.
30 min
10. Procedimiento de encendido.
30 min
11. Colocación de vigas en voladizo.
3h
12. Fijado de muestra
1h
13. Colocación de muestra en microscopio.
1h
14. Obtención de imágenes.
11 h
15. Uso del software de análisis de imágenes NanoScope analisys.
3h
16. Uso de Celda de Fluidos
5h
3h
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III.3 BIBLIOGRAFIA UTILIZADA EN LA ASIGNATURA
Manuales de operación del Microscopio de Fuerza atómica
V. J. Morris, A. Patrick Gunning, Atomic Force Microscopy for Biologists, , Imperial Collage Press,
2004
Claire S. Goldsbury, Simon Scheuring,and Laurent Kreplak, Introduction to Atomic Force Microscopy
(AFM) in Biology, Wiley Interscince 2009.
III.4 PROCEDIMIENTOS O INSTRUMENTOS DE EVALUACIÓN A UTILIZAR
Examen escrito con reactivos sobre aspectos teóricos y prácticos de operación del microscopio de
Fuerza Atómica.
Evaluación práctica, el alumno deberá probar que tiene los conocimientos necesarios para operar por
sí mismo el Microscopio de Fuerza Atómica