Microscopia Electronica de Transmision de Resolución Atómica

Microscopía Electrónica de
Transmisión de Resolución
Atómica
Nanociencias
www.nanocentro.ipn.mx
Aplicaciones
Beneficios
El JEM-ARM200CF cuenta con la capacidad
para el estudio y la caracterización de la
estructura cristalina y la composición
elemental de nanopartículas de materiales
catalíticos, semiconductores,
aleaciones
metálicas,
materiales
mesoporosos,
polímeros y muestras biológicas con
resolución atómica entre otros.
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Imágenes
de
microscopia
electrónica
con
resolución
atómica.
Menor tiempo de análisis
químicos.
Detectores con mejor resolución
espectral para análisis químico.
Operación a diferentes voltajes de
aceleración.
Microscopio JEOL modelo JEM-ARM200CF.
Descripción
El JEM-ARM200CF es un microscopio electrónico con capacidad de resolución
atómica operando en modo TEM o STEM con voltajes de aceleración de 80 – 200
kV. Cuenta con un cañón de electrones de cátodo frío (Cold Field Emission Gun,
CFEG) y un corrector de aberración esférica CEOS para el modo STEM, lo que
permite obtener imágenes con resolución de hasta 78 pm. El microscopio cuenta
con detectores acoplados para realizar análisis químico mediante EDS (energydispersive x-ray spectroscopy) y EELS (electron energy-loss spectroscopy) con
resolución espectral de 0.3eV. Lo cual complementa las técnicas de microscopía
de imagen en campo claro y campo oscuro (BF/DF) y contraste Z (HAADF).
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Imágenes de resolución atómica en modo STEM-BF y STEM-DF
donde se observa la distancia interatómica entre átomos de silicio .
Resultados
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Alta resolución en imágenes campo claro y campo oscuro en TEM y STEM.
STEM-HAADF con resolución de 78 pm.
Difracción y nanodifracción de electrones.
Haz convergente.
Análisis químico EDS con ventana de 100 mm2 (puntual, lineal y mapeos).
EELS (puntual y mapeos).
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