Mitutoyo Surftest SV-3100

Metrología Sariki S.A.
Mitutoyo Surftest SV-3100
Sistema de rugosidad superficial multifuncional que proporciona alta precisión,
análisis 3D de alto nivel de perfiles, así como la medición convencional de rugosidad
superficial. El eje X usa una unidad de disco de cerámica para una mejor resistencia
al desgaste, y las escalas de vidrio de alta precisión garantizan de manera fiable el
posicionado y las mediciones. Las características que incluye son una función de
compensación de rectitud, que mejora la precisión lineal del eje X, particularmente
importante en los parámetros de rugosidad horizontales (S, Sm) que requieren una
alta precisión de recorrido del eje X; una función de compensación circular operativa
con el movimiento vertical del palpador, y una función de compensación de radio de la
bola del palpador. El palpador se puede cambiar fácilmente y existen palpadores
opcionales disponibles para una amplia variedad de aplicaciones de medición. Se
suministra con una caja remota fácil de operar independiente de la unidad principal, lo
que permite operaciones de posicionamiento, inicio de medida / parada, retracción de
palpador, y otras operaciones para realizar de forma remota. El posicionamiento
arriba / debajo de la unidad y el recorrido del eje X puede ser controlada manualmente
también. Los dispositivos periféricos tales como una mesa de nivelación automática,
están disponibles para mejorar la operatividad y la medición automática. Incluye el
paquete de software de análisis de datos dedicado FORMTRACEPAK.
Características:
La serie Surftest SV-3100 proporciona alta precisión, análisis de alto nivel, multifuncionalidad en el análisis 3D y la medición de perfil, así como la medición de la
rugosidad superficial de tipo convencional.
-Incluye FORMTRACEPAK, el software de análisis de datos. Proporciona la gestión
de datos en un formato coherente, desde el sitio de trabajo al laboratorio.
-La guía del eje X está fabricada en cerámica anti-abrasiva. No se requiere
lubricación.
-Escalas de vidrio-de alta precisión, integradas en el eje X (resolución: 0.05μm) y eje
Z2 (columna, resolución: 1μm) aseguran el posicionamiento de alta precisión.
-Equipado con un palpador detector de alta precisión.
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Especificaciones:
• Disponibilidad de modelos SV-3100S4, SV-3100H4, SV-3100WA, SV-3100S8, SV3100H8 y SV-3100W8
• recorrido vertical del eje Z2: 350 o 500 mm columna manual
• Rango de medición 100 mm
• Velocidad de medición 0.02-5mm / s
• Método de medición : con y sin deslizamiento
• Rango Detector 800μm / 0.01μm, 80μm / 0.001μm, 8μm / 0.0001μm (hasta 2400μm
con un palpador opcional)
• rectitud de recorrido (0,05 1 L/1000) micras L = distancia transversal en mm.
• Fuerza de medición 4mN
• Resolución 0.05μm
• Palpador con punta de radio de 90 °
• Escalas ABSOLUTE: encoder lineal
• Velocidad de desplazamiento 0-80mm / s
• Dimensión de la base 600 x 450 mm
• Dimensiones 756 x 482 x 1166mm
• Peso 150 kg
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