FICHA POSGRADUADOS COMPLETAR LOS DATOS POSTERIOR AL PERIODO DE DESARROLLO DE TESIS DOCTORAL NOMBRE Y APELLIDO: Romero, Eduardo Abel 1- CATEGORIZACIÓN ACTUALMENTE: Programa de incentivos Categoría III. Docente investigador de la Universidad Tecnológica Nacional Categoría B, Rama Investigación Científica. Res. 1331/2006. Septiembre de 2006. 2- DOCENCIA GRADO Profesor Asociado dedicación exclusiva- UTN-FRVM Proyecto Final- Ingeniería Electrónica – FRVM Electrónica Aplicada II - Ingeniería Electrónica – FRVM Diseño electrónico con dispositivos de hardware programable- Ingeniería Electrónica – FRVM Lenguajes de descripción de hardware- Ingeniería Electrónica – FRVM Profesor Adjunto dedicación simple (por concurso) - Universidad Nacional de Córdoba. Facultad de Matemática, Astronomía y Física: Arquitectura de computadores. Licenciatura en Computación. Curso de posgrado acreditado en el Doctorado en Física de la FAMAF: Lenguajes de Descripción de Hardware. PROYECTO DE INVESTIGACIÓN EN LOS QUE ESTÁ INCLUIDO COMO DIRECTOR Y/O INTEGRANTE Director: 25R015: CAPACIDAD DEL TEST BASADO EN OSCILACIONES PARA DETECTAR INCUMPLIMIENTO DE ESPECIFICACIONES EN SISTEMAS ELECTRÓNICOS. CURSOS POSGRADO DICTADOS CURSO POSGRADO / Modelado y síntesis con lenguajes de descripción de hardware FECHA CANTIDAD DE HORAS 60 SEMINARIOS No se han dictado seminarios BECAS POSDOCTORALES No se han obtenido becas posdoctorales Formación de recursos humanos para la investigación, el desarrollo tecnológico y la creación artística 1- DIRECCIÓN DE BECARIOS O TESISTAS DE POSGRADO EN CURSO Ing. José María Peralta, tesista de la Maestría en Calidad de la FRVM. 2- DIRECCIÓN DE INVESTIGADORES FORMADOS Dirección del Dr. en Física Gustavo Demarco, Investigador de la Comisión Nacional de Energía Atómica (Centro Atómico Bariloche), adscrito al Grupo de Estudios en Calidad en Mecatrónica de la Facultad Regional Villa María. Universidad Tecnológica Nacional. Dirección de las actividades de investigación de la Dra. en Ingeniería Gabriela Peretti en el Grupo de Investigación y Servicios en Electrónica y Control (GISEC) de la Facultad Regional Villa María (FRVM). Universidad Tecnológica Nacional. 3-DIRECCIÓN DE INVESTIGADORES EN FORMACIÓN Ing. José Peralta (categoría IV en el Programa de Incentivos), Grupo de Estudios en Calidad en Mecatrónica. Fac. Reg. V. María UTN. Ing. José Luis Catalano, Grupo de Estudios en Calidad en Mecatrónica . Fac. Reg. V. María UTN. Ing. Carlos Tais, Grupo de Estudios en Calidad en Mecatrónica. Fac. Reg. V. María UTN. Ing. Huber Fernández, Grupo de Estudios en Calidad en Mecatrónica. Fac. Reg. V. María UTN. Ing. Marcelo Costamagna, Grupo de Estudios en Calidad en Mecatrónica. Fac. Reg. V. María UTN. 4-DIRECCION DE PASANTES Ariel Marino. Estudiante del sexto año de la Carrera de Ingeniería en Electrónica de la FRVM Sergio Sánchez. Estudiante de cuarto año de la Carrera de Ingeniería en Sistemas de Información de la FRVM. Actualmente este estudiante se encuentra rea- lizando una pasantía de seis meses en la Universidad de Ciencias Aplicadas de Esslingen. La tutoría es compartida con el Prof. Lindermeir de esa Universidad. Félix Kunz. Estudiante de la Universidad de Ciencias Aplicadas de Esslingen, Alemania. Realiza una pasantía de seis meses en el GECAM. PUBLICACIONES (PUBLICADOS- EN PRENSA- ENVIADOS) Consignar AutoresTítulo Trabajo- Revista- Volumen- Año E, Romero, C. Marqués, G. Peretti, “An operational amplifier model for test planning at behavioural level”. Microelectronic Journal, Elsevier. Available on line October 10th. G. Peretti, E, Romero, C. Marqués, “Testing Digital Low-Pass Filters Using OBT”, Journal of Microprocessors and Microsystems, Elsevier. Available online 30 January 2007. G. Peretti, E, Romero, C. Marqués, “On the Ability of OBT for Detecting Deviation Faults in SC Ladder Filters”. Journal of Electrical Engineering. SpringerVerlag. Available online 28 March 2007. J. Peralta, G. Peretti, E. Romero, C. Marqués, “Capacidad del test basado en análisis de transitorio para detectar fallas paramétricas”. Ingeniare. Revista chilena de ingeniería. G. Peretti, E, Romero, C. Marqués, “Using Oscillation Based Test for Testing Digital Shapers”. International Journal of Electronics. Taylor & Francis. Volume 94, Issue 8, August 2007, pages 777 – 791. G. Peretti, E, Romero, C. Marqués, “Test of Nuclear Pulse Shapers Using OBT”, Latin American Applied Research. Vol. 37 No. 3, July 2007, pp. 163-170. ISSN 0327-0793. E. Romero, G. Peretti, G. Huertas, D. Vázquez. “Test of Switched- Capacitors Ladder Filters Using Oscillation-Based Test”, Microelectronic Journal, Elsevier. Vol. 36, No. 12, pp. 1073-1079, December 2005. Trabajos enviados bajo proceso de evaluación: J. Catalano, G. Peretti, E, Romero, C. Marqués, “Test basado en oscilaciones en filtros en escalera de tiempo continuo”. Enviado a Revista Internacional Información Tecnológica, Chile. CONGRESOS (PRESENTADOS O ENVIADOS) Luego de la Obtención del Grado de Doctor Consignar autores- Título Trabajo- Lugar de realización- Fecha Presentación en Congresos y Simposios Internacionales con referato 1. REUNIONES INTERNACIONALES M. González, G. Peretti, E. Romero, “Tolerancia a fallas en circuitos electrónicos utilizando algoritmos genéticos”. Actas del 8º Congreso Interamericano de Computación Aplicada a la Industria de Procesos. Editorial Centro de Información Tecnológica. ISBN 978-956-310-528-5. pp 121-124. Chile, 2007. A. Marino, G. Peretti, E. Romero, “Estudio del impacto de implementaciones de sumadores en arreglos lógicos programables”. Actas del 8º Congreso Interamericano de Computación Aplicada a la Industria de Procesos. Editorial Centro de Información Tecnológica. ISBN 978-956-310-528-5. pp. 215-218. Chile, 2007. J. Catalano, G. Peretti, E. Romero, C. Marqués, “Test basado en oscilaciones en filtros en escalera de tiempo continuo”. Actas del 8º Congreso Interamericano de Computación Aplicada a la Industria de Procesos. Editorial Centro de Información Tecnológica. ISBN 978-956-310-528-5. pp. 255-258. Chile, 2007. C. Tais, G. Demarco, E. Romero, “Efectos térmicos y mecánicos en transistores MOS”. Actas del 8º Congreso Interamericano de Computación Aplicada a la Industria de Procesos. Editorial Centro de Información Tecnológica. ISBN 978956-310-528-5. pp. 375-378. Chile, 2007. J. Peralta, G. Peretti, E. Romero, C. Marqués. “Detecting Parametric Faults using TRAM”. 8th IEEE Latin American Test Workshop, Cuzco, Perú. 11 al 14 de marzo de 2007. J. Peralta, G. Peretti, E. Romero, C. Marqués. “Evaluación del análisis de respuesta transitoria bajo condición de falla paramétrica”. XIII Taller Iberchip, Lima, Perú. 14 a 16 de marzo 2007. G. Peretti, E, Romero, C. Marqués, "Oscillation-based test in high-order switched capacitors ladder filters", Proceedings 6th International Caribbean Conference on Device, Circuits and Systems ICCDCS2006, 2006. Editado por IEEE, USA. pp 61-66. ISBN: 1-4244-0041-4 J.L. Catalano, G. Peretti, E. Romero, C. Marqués, “Exploring the Ability of Oscillation Based Test for Testing Continuous -Time Ladder Filters”, Proceedings 7th International Symposium on Quality Electronic Design (ISQED'06), Editado por IEEE Computer Society, USA, 2006, ISBN 0-7695-2523-7. G. Peretti, E. Romero, C. Marqués, “Oscillation Based Test Applied to Digital Spectrometers”, Actas XII Taller Iberchip, 2006, Costa Rica. G. Peretti, E. Romero, C. Marqués, Oscillation-Based Test in Digital IIR Filters", Proceedings VI Latin American Test Workshop, pp. 41-46, ISBN: 857727-022-X. Editado por Evangraf, Porto Alegre, 2006. 2-REUNIONES NACIONALES J. Peralta, G. Peretti, E. Romero y C. Marqués, “Evaluación de estrategias de test de circuitos utilizando modelos de fallas estadísticos: un caso de estudio”. Primer congreso de matemática aplicada, computacional e industrial. 2 al 5 de octubre de 2007. Córdoba-Argentina Integrante de Comisiones Evaluadoras en Organismos de Acreditación y/o Evaluación Docente Miembro de la Comisión de Posgrado de la Universidad Tecnológica Nacional Miembro de Comisiones Asesoras Integrante de Tribunales de Tesis de Posgrado