COMPLETAR LOS DATOS POSTERIOR AL ... DE TESIS DOCTORAL

FICHA POSGRADUADOS
COMPLETAR LOS DATOS POSTERIOR AL PERIODO DE DESARROLLO
DE TESIS DOCTORAL
NOMBRE Y APELLIDO: Peretti, Gabriela Marta
1- ACTUALMENTE:
CATEGORIZACIÓN
Programa de incentivos Categoría IV
2- DOCENCIA GRADO : Profesor adjunto Dedicación exclusiva Proyecto Final- Ingeniería Electrónica – FRVM
Electrónica Aplicada II - Ingeniería Electrónica – FRVM
Diseño electrónico con dispositivos de hardware programable- Ingeniería
Electrónica – FRVM
Lenguajes de descripción de hardware- Ingeniería Electrónica – FRVM
Jefe de trabajos prácticos dedicación simple (por concurso) - Universidad Nacional
de Córdoba. Facultad de Matemática, Astronomía y Física:


Arquitectura de computadores. Licenciatura en Computación.
Curso de posgrado acreditado en el Doctorado en Física de la FAMAF:
Lenguajes de Descripción de Hardware.
PROYECTO DE INVESTIGACIÓN EN LOS QUE ESTÁ INCLUIDO COMO
DIRECTOR Y/O INTEGRANTE
Codirector: 25R015- CAPACIDAD DEL TEST BASADO EN OSCILACIONES
PARA DETECTAR INCUMPLIMIENTO DE ESPECIFICACIONES EN SISTEMAS
ELECTRÓNICOS.
CURSOS POSGRADO DICTADOS
CURSO POSGRADO /
Circuitos analógicos y digitales
configurables
Modelado y síntesis con lenguajes
de descripción de hardware
FECHA
CANTIDAD DE
HORAS
60
60
SEMINARIOS
BECAS POSDOCTORALES
Formación de recursos humanos para la investigación, el desarrollo tecnológico y
la creación artística
1- DIRECCIÓN DE BECARIOS O TESISTAS DE POSGRADO EN CURSO
Ing. José María Peralta, tesista de la Maestría en Calidad de la FRVM.
2- DIRECCIÓN DE INVESTIGADORES FORMADOS
3- DIRECCIÓN DE INVESTIGADORES EN FORMACIÓN
4-DIRECCION DE PASANTES
Dirección de becarios alumnos
Menta, Gerardo
PUBLICACIONES (PUBLICADOS- EN PRENSA- ENVIADOS) Consignar AutoresTítulo Trabajo- Revista- Volumen- Año

E, Romero, C. Marqués, G. Peretti, “An operational amplifier model for test
planning at behavioural level”. Microelectronic Journal, Elsevier. Available on
line October 10th.

G. Peretti, E, Romero, C. Marqués, “Testing Digital Low-Pass Filters Using
OBT”, Journal of Microprocessors and Microsystems, Elsevier. Available online
30 January 2007.

G. Peretti, E, Romero, C. Marqués, “On the Ability of OBT for Detecting
Deviation Faults in SC Ladder Filters”. Journal of Electrical Engineering.
Springer-Verlag. Available online 28 March 2007.

J. Peralta, G. Peretti, E. Romero, C. Marqués, “Capacidad del test basado en
análisis de transitorio para detectar fallas paramétricas”. Ingeniare. Revista
chilena de ingeniería.

G. Peretti, E, Romero, C. Marqués, “Using Oscillation Based Test for Testing
Digital Shapers”. International Journal of Electronics. Taylor & Francis. Volume
94, Issue 8, August 2007, pages 777 – 791.

G. Peretti, E, Romero, C. Marqués, “Test of Nuclear Pulse Shapers Using OBT”,
Latin American Applied Research. Vol. 37 No. 3, July 2007, pp. 163-170.
ISSN 0327-0793.

E. Romero, G. Peretti, G. Huertas, D. Vázquez. “Test of Switched- Capacitors
Ladder Filters Using Oscillation-Based Test”, Microelectronic Journal, Elsevier.
Vol. 36, No. 12, pp. 1073-1079, December 2005.
Trabajos enviados bajo proceso de evaluación:

J. Catalano, G. Peretti, E, Romero, C. Marqués, “Test basado en oscilaciones en
filtros en escalera de tiempo continuo”. Enviado a Revista Internacional
Información Tecnológica, Chile.
CONGRESOS (PRESENTADOS O ENVIADOS) Luego de la Obtención del Grado de
Doctor Consignar autores- Título Trabajo- Lugar de realización- Fecha
Presentación en Congresos y Simposios Internacionales con referato
1. REUNIONES INTERNACIONALES

M. González, G. Peretti, E. Romero, “Tolerancia a fallas en circuitos
electrónicos utilizando algoritmos genéticos”. Actas del 8º Congreso
Interamericano de Computación Aplicada a la Industria de Procesos. Editorial
Centro de Información Tecnológica. ISBN 978-956-310-528-5. pp 121-124.
Chile, 2007.

A. Marino, G. Peretti, E. Romero, “Estudio del impacto de implementaciones de
sumadores en arreglos lógicos programables”. Actas del 8º Congreso
Interamericano de Computación Aplicada a la Industria de Procesos. Editorial
Centro de Información Tecnológica. ISBN 978-956-310-528-5. pp. 215-218.
Chile, 2007.

J. Catalano, G. Peretti, E. Romero, C. Marqués, “Test basado en oscilaciones en
filtros en escalera de tiempo continuo”. Actas del 8º Congreso Interamericano de
Computación Aplicada a la Industria de Procesos. Editorial Centro de
Información Tecnológica. ISBN 978-956-310-528-5. pp. 255-258. Chile, 2007.

C. Tais, G. Demarco, E. Romero, “Efectos térmicos y mecánicos en transistores
MOS”. Actas del 8º Congreso Interamericano de Computación Aplicada a la
Industria de Procesos. Editorial Centro de Información Tecnológica. ISBN 978956-310-528-5. pp. 375-378. Chile, 2007.

J. Peralta, G. Peretti, E. Romero, C. Marqués. “Detecting Parametric Faults using
TRAM”. 8th IEEE Latin American Test Workshop, Cuzco, Perú. 11 al 14 de marzo
de 2007.

J. Peralta, G. Peretti, E. Romero, C. Marqués. “Evaluación del análisis de respuesta
transitoria bajo condición de falla paramétrica”. XIII Taller Iberchip, Lima, Perú.
14 a 16 de marzo 2007.

G. Peretti, E, Romero, C. Marqués, "Oscillation-based test in high-order
switched capacitors ladder filters", Proceedings 6th International Caribbean
Conference on Device, Circuits and Systems ICCDCS2006, 2006. Editado por
IEEE, USA. pp 61-66. ISBN: 1-4244-0041-4

J.L. Catalano, G. Peretti, E. Romero, C. Marqués, “Exploring the Ability of
Oscillation Based Test for Testing Continuous -Time Ladder Filters”,
Proceedings 7th International Symposium on Quality Electronic Design
(ISQED'06), Editado por IEEE Computer Society, USA, 2006, ISBN 0-76952523-7.

G. Peretti, E. Romero, C. Marqués, “Oscillation Based Test Applied to Digital
Spectrometers”, Actas XII Taller Iberchip, 2006, Costa Rica.

G. Peretti, E. Romero, C. Marqués, Oscillation-Based Test in Digital IIR
Filters", Proceedings VI Latin American Test Workshop, pp. 41-46, ISBN: 857727-022-X. Editado por Evangraf, Porto Alegre, 2006.
2-REUNIONES NACIONALES
 J. Peralta, G. Peretti, E. Romero y C. Marqués, “Evaluación de estrategias de
test de circuitos utilizando modelos de fallas estadísticos: un caso de estudio”.
Primer congreso de matemática aplicada, computacional e industrial. 2 al 5 de
octubre de 2007. Córdoba-Argentina
Integrante de Comisiones Evaluadoras en Organismos de Acreditación y/o
Evaluación Docente
Miembro de Comisiones Asesoras
Integrante de Tribunales de Tesis de Posgrado